Sklopljeno optično modeliranje sodobnih optoelektronskih gradnikov

Velikost: px
Začni prikazovanje s strani:

Download "Sklopljeno optično modeliranje sodobnih optoelektronskih gradnikov"

Transkripcija

1 ELEKTROTEHNIŠKI VESTNIK 87(5): , 2020 IZVIRNI ZNANSTVENI ČLANEK Sklopljeno optično modeliranje sodobnih optoelektronskih gradnikov Milan Kovačič, Marko Jošt, Matevž Bokalič, Benjamin Lipovšek Univerza v Ljubljani, Fakulteta za elektrotehniko, Tržaška c. 25, 1000 Ljubljana, Slovenija E-pošta: benjamin.lipovsek@fe.uni-lj.si Povzetek. Napredni pristopi optičnega modeliranja so eno izmed ključnih orodij pri analizi, načrtovanju in optimizaciji sodobnih optoelektronskih gradnikov, kot so sončne celice in svetleče diode. Pri tem se zaradi čedalje večje kompleksnosti struktur vse bolj uveljavlja metoda sklopljenega modeliranja, pri kateri združujemo različne numerične modele, ki jih uporabimo za obravnavo različnih delov strukture. V tem prispevku se osredotočamo na sklopljeno optično modeliranje visokoučinkovitih heterospojnih silicijevih sončnih celic in organskih svetlečih diod. V obeh primerih najprej s pomočjo optičnih simulacij analiziramo delovanje izhodiščne strukture, pri čemer posebno pozornost posvetimo analizi optičnih izgub. Nato oba gradnika na sprednji strani nadgradimo s površinsko teksturirano folijo, s katero občutno izboljšamo svetlobno ujetje pri sončnih celicah oziroma izstop svetlobe pri svetlečih diodah, ter ovrednotimo njen vpliv v primerjavi z izhodiščno strukturo. V zaključnem delu se posvetimo še optimizaciji geometrijskega profila površinske teksture, s katero bi bilo mogoče doseči kar največje učinkovitosti delovanja obravnavanih optoelektronskih gradnikov. Ključne besede: sončne celice, organske svetleče diode, upravljanje svetlobe, optično modeliranje Coupled optical modelling of modern optoelectronic devices Advanced concepts of optical modelling present one of the key tools for analysis, design and optimization of modern optoelectronic devices, such as solar cells and light-emitting diodes. However, since the structures of these devices are becoming increasingly more complex, they can only be accurately treated by means of a coupled modelling approach, in which different parts of the device are analyzed by different numerical models. In this work, we focus on coupled optical modelling of high-efficiency heterojunction silicon solar cells and organic light-emitting diodes. Employing optical simulations in both cases, we first analyze the performance of the initial device structures, with a special emphasis on the analysis of optical losses. Then both devices are enhanced with a surface-textured light-management foil at the front side by which the in-coupling into the solar cell and the out-coupling out of the light-emitting diode are improved significantly. We evaluate the performance of the surface-textured devices compared to their initial structure. In the final part, we optimize the geometrical profile of the surface texture to obtain an optimal device performance in both types of the studied optoelectronic devices. Keywords: Solar cells, Organic light emitting diodes, Light management, Optical modelling 1 UVOD Optoelektronika je dandanes eden izmed tehnoloških temeljev sodobne družbe. Optoelektronske naprave nas spremljajo tako rekoč na vsakem koraku, saj jih srečujemo tako v obliki majhnih potrošniških izdelkov (pametni telefoni, zasloni, kompaktni fotoaparati) kot tudi velikih sistemov (sončne elektrarne, javna razsvetljava). Pri načrtovanju, analizi in optimizaciji sodobnih optoelektronskih gradnikov so nepogrešljivo orodje optične simulacije, ki ne le skrajšajo pot do končnega izdelka, temveč ključno prispevajo tudi k bolj poglobljenemu razumevanju različnih fizikalnih pojavov, ki v njih nastopajo [1]. Z njimi je namreč mogoče pridobiti podatke tudi o veličinah, ki jih eksperimentalno ne bi mogli izmeriti. Zaradi kompleksnosti struktur celovite optične analize tovrstnih gradnikov ni mogoče izvesti le z enim fizikalnim modelom, temveč je treba združevati različne modele, ki jih uporabimo vsakega za svoj del obravnavane strukture. Govorimo o pristopu t. i. sklopljenega modeliranja (angl. coupled modelling approach CMA), ki je zadnja leta vse bolj v veljavi in ga vse pogosteje uporabljajo v številnih raziskovalnih skupinah [2 4]. V pričujočem prispevku bomo s pristopom sklopljenega modeliranja obravnavali dva ključna optoelektronska gradnika, in sicer visokoučinkovito heterospojno silicijevo sončno celico ter organsko Prejet 10. september, 2020 Odobren 21. september, 2020

2 224 svetlečo diodo. Za njuno optično analizo bomo uporabili lastni napredni optični simulator CROWM [2, 5, 6]. Najprej bomo predstavili delovanje simulatorja ter ključne vhodne in izhodne parametre obeh struktur. Nato bomo izhodiščne strukture obravnavali v smislu analize optičnih izgub in evalvacije osnovnega delovanja. V drugem delu bomo obe strukturi na sprednji strani nadgradili s površinsko teksturirano folijo, ki omogoča bistveno boljše optične razmere tako pri vstopu svetlobe v strukturo sončne celice kot tudi pri izstopu svetlobe iz svetleče diode, s čimer se optične izgube občutno zmanjšajo, učinkovitost gradnikov pa poveča [7 11]. V zaključni fazi bomo s pomočjo optičnih simulacij površinsko teksturo optimizirali še s stališča njenega geometrijskega profila, pri čemer bo cilj poiskati takšno teksturo, ki bo omogočala kar najboljše optične razmere in s tem učinkovitost obeh obravnavanih gradnikov. 2 OPTIČNO MODELIRANJE Sodobni optoelektronski gradniki, kot so visokoučinkovite sončne celice in svetleče diode, so s stališča optičnega modeliranja kompleksne večplastne strukture, sestavljene iz množice različnih materialov, ki nastopajo v plasteh različnih debelin. V optično tankih plasteh, tj. tipično pri debelinah manj kot 1 μm, svetloba ohranja koherentni značaj, kar se odraža predvsem v opaznih interferenčnih pojavih; govorimo o koherentnem širjenju, ki ga je treba obravnavati z ustreznimi fizikalnimi modeli s področja t. i. valovne optike. Po drugi strani pa se pri dovolj debelih plasteh, tipično 10 μm in več, koherentni značaj izgubi, interferenčni pojavi pa izzvenijo; v tem primeru govorimo o nekoherentnem širjenju, ki ga navadno obravnavamo s fizikalnimi modeli s področja t. i. geometrijske optike. Dodatno se v strukturah na spojih med plastmi lahko pojavljajo tudi različne teksture. Te so lahko v mikro- ali milimetrskem velikostnem razredu, kjer prehod svetlobe preko takšnega spoja v celoti opisuje Snellov lomni zakon (geometrijska optika). V primeru tekstur iz nanometrskega velikostnega razreda, kjer so značilne dimenzije teksture (npr. perioda, višina, korelacijska dolžina) primerljive z valovno dolžino svetlobe, pa pridejo do izraza tudi uklonski učinki. V tem primeru je obravnavo prehoda svetlobe preko takšnega spoja treba izvesti z ustrezno metodo s področja valovne optike, pri čemer se najpogosteje uporabljata rigorozna analiza sklopljenih valov (angl. rigorous coupled wave analysis, RCWA) in metoda končnih elementov (angl. finite element method, FEM). Celovito optično analizo opisanih kompleksnih struktur lahko učinkovito izvedemo le s pristopi sklopljenega modeliranja, kjer različne dele strukture obravnavamo z različnimi modeli, med njimi pa zagotovimo ustrezno povezavo, ki je tipično iterativnega značaja. V Laboratoriju za fotovoltaiko in optoelektroniko (LPVO) na Fakulteti za elektrotehniko Univerze v Ljubljani smo razvili optični simulator CROWM (angl. Coupled Ray Optics / Wave optics KOVAČIČ, JOŠT, BOKALIČ, LIPOVŠEK Model), ki združuje model sledenja žarkov v treh dimenzijah (angl. ray tracing, RT) z modelom prenosnih matrik (angl. transfer matrix method, TMM) [2, 5]. Prvi je uporabljen za analizo nekoherentnega širjenja svetlobe skozi vse optično debele plasti v strukturi ter loma svetlobe na gladkih in mikroteksturiranih spojih (geometrijska optika), medtem ko drugi opisuje koherentno širjenje svetlobe skozi vse gladke optično tanke plasti (valovna optika). Za obravnavo morebitnih nanoteksturiranih spojev v strukturi, v kateri bi postali izraziti tudi uklonski pojavi, CROWM omogoča še uporabo modela RCWA [12], ki pa v okviru te študije ne bo uporabljen. Poleg ustreznih optičnih modelov je treba za verodostojno optično analizo dobro poznati parametre strukture. To so predvsem debeline posameznih plasti, ki jih ali poznamo vnaprej, npr. z dobrim poznavanjem proizvodnega procesa, ali pa jih izmerimo naknadno, npr. s pomočjo vrstičnega elektronskega mikroskopa (ang. scanning electron microscopy, SEM). Sledijo profili morebitnih tekstur v strukturi, ki jih lahko izmerimo z različnimi orodji, kot so profilometer, konfokalni mikroskop ali mikroskop na atomsko silo (angl. atomic force microscopy, AFM). Dobro pa moramo poznati tudi optične lastnosti posameznih materialov, ki se v splošnem spreminjajo z valovno dolžino svetlobe λ in se tipično podajajo v obliki kompleksnega lomnega količnika N(λ) = n(λ) jk(λ), v katerem n predstavlja realni del, j imaginarno enoto, k pa t. i. ekstinkcijski koefcient, ki je neposredno povezan s stopnjo absorpcije v materialu pri dani valovni dolžini. Kompleksni lomni količnik materialov je mogoče določiti na različne načine, kot sta elipsometrija [13] in metoda merjenja odbojnosti in prepustnosti [14]. Ne nazadnje je treba pri optičnih simulacijah jasno opredeliti vhodne in izhodne signale. Njihove definicije se razlikujejo za različne tipe optoelektronskih gradnikov, zato jih v nadaljevanju posebej navajamo za dva izbrana primera, ki bosta obravnavana v okviru tega prispevka. 2.1 Svetlobni sprejemniki sončne celice Pri svetlobnih sprejemnikih, kot so fotodetektorji in sončne celice, vhodni signal optičnih simulacij predstavlja svetloba, ki vpada na strukturo. Pri tem moramo poznati valovno dolžino svetlobe λ, gostoto vpadne moči in polarizacijo. V primeru sončnih celic kot vir svetlobe pogosto vzamemo referenčni sončni spekter AM1,5G (IEC ), v katerem je gostota vpadne moči J ph pri posameznih valovnih dolžinah natančno določena, svetlobo pa obravnavamo kot nepolarizirano oziroma v simulacijah privzamemo enako razmerje transverzalno električne (TE) in transverzalno magnetne (TM) komponente. Tipični izhodni signali, ki nas zanimajo v sklopu optičnih simulacij svetlobnih sprejemnikov, pa so relativni deleži vpadne svetlobe, ki se pri posamezni valovni dolžini odbije od celotne strukture, prepusti skozi

3 SKLOPLJENO OPTIČNO MODELIRANJE SODOBNIH OPTOELEKTRONSKIH GRADNIKOV 225 strukturo ali pa absorbira znotraj določene plasti. Govorimo o veličinah odbojnosti oz. reflektanci R, prepustnosti oz. transmitanci T in absorptanci A. V primeru sončnih celic nas najpogosteje zanima ravno absorptanca znotraj fotoaktivne plasti, v kateri se generirajo pari nosilcev električnega naboja (elektronvrzel), ki jih med delovanjem sončne celice zbiramo na kontaktih v obliki električnega toka. Če predpostavimo, da se med ekstrakcijo nosilcev naboja iz fotoaktivne plasti nič nosilcev ne izgubi, lahko iz podatka o absorptanci izračunamo tudi gostoto kratkostičnega toka celice J SC po enačbi (1), v kateri q predstavlja osnovni naboj, h Planckovo konstanto in c 0 hitrost svetlobe v praznem prostoru. Ker je vrednost J SC neposredno povezana z učinkovitostjo pretvorbe sončne energije v električno, jo pri optičnem načrtovanju in optimizaciji sončnih celic pogosto jemljemo kot kriterijsko funkcijo. J SC = q h c 0 λ A(λ) J ph (λ) λ dλ 2.2 Svetlobni oddajniki svetleče diode (1) Pri optičnih simulacijah svetlobnih oddajnikov vhodni signal predstavlja svetloba, generirana znotraj strukture. V primeru organskih svetlečih diod (angl. organic lightemitting diode, OLED) je to elektroluminiscenčna emisija, ki jo sproži prehod dipola iz vzbujenega molekularnega stanja v osnovno stanje. Ker velikosti takšnih sevalnih virov molekul v OLED ne presegajo nekaj nanometrov, jih lahko obravnavamo kot točkovne dipole. Točkovni sevalni dipoli so modelirani kot klasični, nenehno nihajoči dipoli s preddefiniranim emisijskim spektrom in specifično kotno porazdelitvijo intenzitete sevane svetlobe (angl. angular intensity distribution, AID). Sevalni dipoli so v splošnem lahko poljubno orientirani v prostoru, vendar pa lahko vsak naključno orientiran dipol predstavimo s kombinacijo treh ortogonalnih dipolov, pri čemer je en pravokoten (vertikalen) glede na horizontalno ravnino globalnega koordinatnega sistema, s katero so paralelne tudi vse plasti strukture, druga dva pa sta z njo paralelna (horizontalna). Dipoli so v večini primerov obravnavani kot izotropno orientirani, torej moramo upoštevati samo orientacijo glede na normalo sistema. Za opis splošne orientacije vseh sevalnih dipolov v sistemu vpeljemo anizotropni koeficient a, ki definira razmerje med številom vertikalnih dipolov in vseh dipolov. Za primer naključne orientacije dipolov je a = 1/3. Z vpeljavo anizotropije kompleksen problem opisa detajlne orientacije posameznih sevalnih dipolov zmanjšamo na razmeroma enostaven problem definicije razmerja med horizontalnimi in vertikalnimi dipoli [15]. OLED se primarno uporabljajo kot svetlobni viri (svetila, zasloni) v vidnem delu spektra, zato izhodne podatke, ki opisujejo lastnosti delovanja OLED, namesto v radiometričnih veličinah raje podajamo v fotometričnih veličinah, ki so prilagojene zaznavi človeškega očesa. Najpomembnejša med njimi je učinkovitost η p, ki je definirana kot razmerje med fotometrično močjo v lumnih, ki jo zaznavamo na izhodu (v zraku), in električno močjo, ki se troši v elementu. Izračunamo jo lahko po enačbi (2), v kateri je K funkcija luminiscenčne učinkovitosti, ki ustreza relativni občutljivosti človeškega očesa pri fotopičnem vidu [16], K m = 683 lm/w je njena maksimalna vrednost pri valovni dolžini 555 nm, U je električna napetost, I c električni tok in EQE zunanja kvantna učinkovitost. η p = K m h c 0 EQE(I q U c, λ) K(λ) dλ λ Optične lastnosti, na katere se osredotočamo v tem prispevku, so zajete v zunanji kvantni učinkovitosti EQE, ki izraža razmerje med številom fotonov, ki dosežejo daljno polje (v zraku), in številom injiciranih nosilcev naboja znotraj strukture. Izračunamo jo po enačbi (3), v kateri je γ električna učinkovitost, definirana kot razmerje med številom sevalnih rekombinacij v emisijski plasti in številom injiciranih nosilcev naboja, s el je normalizirani elektroluminiscenčni emisijski spekter emisijskega materiala, η out je izstopna učinkovitost generirane svetlobe v daljno polje, η rad,e pa je efektivna sevalna učinkovitost. EQE = γ λ s el (λ) η rad,e (λ) η out (λ) dλ (2) (3) Pomemben faktor η rad,e določa razmerje med emisijskimi in neemisijskimi rekombinacijami, na katero močno vpliva optično okolje (npr. optična votlina). Izračunamo ga po enačbi (4), v kateri je η rad,e konstanta lastne sevalne učinkovitosti sevalnega vira, določena z materialom, F pa Purcellov faktor, definiran kot razmerje med skupno sevano močjo na lokaciji vira in skupno sevano močjo, ki bi jo vir oddajal v neskončnem homogenem prostoru. V primeru OLED se v tankoplastni strukturi med substratom in zadnjim kontaktom pojavi optična mikrovotlina, ki določa Purcellov faktor F. η rad,e (λ) = η rad,e F(λ) 1 η rad,e + η rad,e F(λ) (4) V optičnih simulacijah z uporabo sklopljenega modeliranja izračunamo valovno odvisno izstopno učinkovitost generirane svetlobe η out ter valovno odvisen Purcelov faktor F, nato pa z uporabo zgornjih enačb izračunamo EQE kot primarni izhodni podatek. Kot drugi izhodni podatek simulacij pa nas pogosto zanima še valovno odvisna kotna porazdelitev intenzitete sevane svetlobe (AID) v daljnem polju, ki v zgornjih enačbah sicer ne nastopa. Ta je še zlasti pomembna pri belih OLED-svetilih, kjer je treba zagotoviti ujemanje AID-karakteristik posameznih valovnih komponent, saj bi se v nasprotnem primeru lahko barva svetlobe nezaželeno spreminjala z vidnim kotom.

4 226 3 HETEROSPOJNE SILICIJEVE SONČNE CELICE Na področju fotovoltaike danes prevladujejo sončne celice, osnovane na rezinah kristalnega silicija, pri čemer najvišje učinkovitosti pretvorbe sončne energije v električno dosegajo heterospojne izvedbe [17, 18]. Primer strukture heterospojne silicijeve sončne celice prikazuje slika 1, v kateri so poleg navedb posameznih plasti podane tudi njihove debeline te niso risane v razmerju), hkrati pa sta prikazani še obe značilni teksturi, ki bosta podrobneje opisani v nadaljevanju. Jedro celice predstavlja 200 μm debela rezina kristalnega silicija (c-si), ki je za potrebe boljšega ujetja svetlobe tipično teksturirana z obeh strani. Teksturiranje se izvaja z alkalnim jedkanjem, najpogosteje v raztopini KOH pri povišani temperaturi, pri čemer se na površini izoblikujejo naključne štiristrane piramide z gostoto več deset tisoč piramid na kvadratni milimeter. Povprečna višina piramid, ki je odvisna od procesa, se giblje v območju od 1 do 10 μm, stranice pa s horizontalo oklepajo kot nekoliko manj kot 55. Primer izmerjene teksture je prikazan v spodnjem desnem kotu slike 1. Teksturirana površina silicijeve rezine je pasivirana s tanko plastjo čistega hidrogeniziranega amorfnega silicija (i-a-si:h), ki ji nato vsaka na svoji strani sledita še z borom in s fosforjem močno dopirani plasti hidrogeniziranega amorfnega silicija (p-a-si:h in n-a- Si:H), ki služita za selektivno zbiranje svetlobno generiranih nosilcev električnega naboja. Zaradi slabe prevodnosti dopiranih plasti a-si:h je za učinkovit transport nosilcev potrebna dodatna plast transparentnega prevodnega oksida, pri čemer se najpogosteje uporablja z indijem dopirani kositrov oksid (ITO). Sledita še kovinska kontakta; kontakt na sprednji strani je realiziran s sitotiskom v obliki tankih kontaktnih prstov, medtem ko je na zadnji strani kontakt realiziran po celotni površini celice. Kovinski kontakt na zadnji strani pri tem opravlja tudi funkcijo učinkovitega odbojnika za svetlobo, ki se ji v prvem preletu preko silicijeve plasti ni uspelo v celoti absorbirati. Pred končno uporabo je celicam treba zagotoviti še ustrezno mehansko trdnost in zaščito pred zunanjimi vplivi. To se izvede v koraku enkapsulacije, pri katerem se najpogosteje uporablja metoda laminacije. Celice se na sprednji strani zaščitijo z debelo plastjo visokoprepustnega stekla, na zadnji strani pa z zaščitno večslojno polimerno folijo (npr. TPT). Med celico in steklom oziroma zadnjo zaščitno folijo je še plast etilenvinil acetatne folije (EVA), ki v postopku laminacije poveže celico s sprednjo in zadnjo zaščitno plastjo ter med poznejšim obratovanjem celice zagotavlja zaščito pred zunanjimi vplivi. Kot zadnji gradnik strukture heterospojne silicijeve sončne celice, prikazane na sliki 1, pa je na površini zaščitnega stekla še tanka teksturirana folija na osnovi polidimetilsiloksana (PDMS), katere glavna funkcija je dodatno izboljšanje ujetja svetlobe znotraj sončne celice [7, 10]. Takšne folije so se izkazale kot zelo KOVAČIČ, JOŠT, BOKALIČ, LIPOVŠEK učinkovite v primeru tankoplastnih organskih in perovskitnih sončnih celic [10, 19], medtem ko bo njihova uporaba v heterospojnih silicijevih sončnih celicah ovrednotena v sklopu tega prispevka. Teksturo na površini PDMS-plasti je mogoče realizirati na različne načine, na primer s postopkom UV-nanovtisne litografije (UV-NIL) [19, 20], prav tako je mogoče realizirati različne oblike oziroma profile teksture. Kot eden izmed najbolj učinkovitih se je za potrebe svetlobnega ujetja izkazal profil heksagonalno razporejenih enakostraničnih tristranih piramid oz. tetraedrov, katerih dolžine stranic se lahko gibljejo v rangu od 1 do 100 μm, ploskve piramid pa druga z drugo oklepajo pravi kot (t. i.»cornercube«tekstura) [7, 9]. Primer takšne teksture je prikazan v zgornjem desnem kotu slike 1. Slika 1: Shematski prerez strukture heterospojne silicijeve sončne celice z označenimi debelinami plasti ter teksturami, realiziranimi na različnih spojih v strukturi. Debeline plasti niso risane v pravem razmerju. 3.1 Svetlobno ujetje v heterospojnih silicijevih sončnih celicah V optimalnem primeru popolne izrabe vpadnega sončnega spektra, ko bi se vsakemu vpadnemu fotonu uspelo absorbirati v fotoaktivni plasti in generirati svoj par nosilcev naboja, bi heterospojna silicijeva sončna celica pod referenčnimi pogoji osvetlitve (25 C, gostota vpadne moči 100 mw/cm 2, spekter AM1,5G) izkazovala gostoto kratkostičnega toka J SC, ideal = 46,53 ma/cm 2. V realnosti je delež izrabe spektra nižji zaradi različnih mehanizmov optičnih izgub, ki jih poskušamo omejevati z raznovrstnimi pristopi upravljanja svetlobe. Razumevanje tako optičnih izgub kot tudi omenjenih pristopov je ključno za uspešno načrtovanje in optimizacijo visokoučinkovitih sončnih celic, zato jih s pomočjo sklopljenega modeliranja v okolju CROWM podrobno obravnavamo v tem razdelku. V prvem koraku smo izvedli simulacijo gole, neenkapsulirane sončne celice (brez plasti PDMS, stekla, EVA in TPT) brez kakršnihkoli tekstur v strukturi

5 SKLOPLJENO OPTIČNO MODELIRANJE SODOBNIH OPTOELEKTRONSKIH GRADNIKOV 227 površina silicijeve rezine je bila obravnavana kot gladka. Simulirana absorptanca, tj. delež vpadne svetlobe, ki se absorbira v siliciju pri posameznih valovnih dolžinah, je prikazana na sliki 2 s prekinjeno rumeno krivuljo. Gostota kratkostičnega toka J SC, izračunana iz simulirane absorptance ob upoštevanju referenčnega spektra AM1,5G, znaša 34,19 ma/cm 2, kar ustreza 73,5-odstotni izrabi spektra. Občutne optične izgube v obsegu več kot četrtine vpadnega spektra v primeru obravnavane celice izvirajo primarno iz treh mehanizmov [10]. Prvič, v celotnem spektralnem območju je prisoten odboj svetlobe od površine celice. Ta je deloma omejen z optimalno izbiro debeline sprednje plasti ITO, ki poleg zbiranja nosilcev naboja opravlja tudi funkcijo protiodbojne plasti; v danem primeru je minimum odbojnosti in s tem vrh absorptance pri valovni dolžini 640 nm. Povečanje debeline plasti ITO bi se odrazilo v premiku tega vrha proti daljšim valovnim dolžinam (v desno), zmanjšanje debeline pa v premiku vrha proti krajšim valovnim dolžinam (v levo). Drugič, del svetlobe, ki vstopa v strukturo, se absorbira v neaktivnih plasteh, še preden doseže fotoaktivno plast. Ta pojav t. i. parazitne absorpcije je zlasti izrazit pri kratkih valovnih dolžinah, pri katerih se svetloba močno absobira v sprednjih plasteh ITO, n-a-si:h in i-a-si:h, ter v danem primeru obsega 6,1 % celotnega vpadnega spektra. Pod tretji mehanizem štejemo pojav, ko se del svetlobe, ki sicer vstopa v fotoaktivno plast, v njej ne uspe popolnoma absorbirati, temveč po odboju od zadnjega odbojnika izstopa iz strukture na sprednji strani in se prišteva k skupni odbojnosti. Ta pojav je poudarjen pri daljših valovnih dolžinah, ko zmožnost absorpcije v siliciju začne upadati. Izgube zaradi obeh mehanizmov odboja skupaj v danem primeru obsegajo 20,4 % celotnega vpadnega spektra in so s tem poglavitni vir optičnih izgub v obravnavani sončni celici. Za lažjo primerjavo je porazdelitev vpadnega spektra na uporabni delež in deleže optičnih izgub prikazana na sliki 3 za vse primere, simulirane v tem razdelku. V naslednjem koraku smo v simulaciji upoštevali, da sta obe površini rezine silicija teksturirani, medtem ko smo še vedno simulirali golo celico. Pri tem smo uporabili realno teksturo z naključnimi štiristranimi piramidami, izmerjeno s pomočjo mikroskopa na atomsko silo (AFM). Povprečna višina piramid v teksturi je znašala 2,8 μm, največja višina je bila 6,25 μm, korelacijska dolžina pa 1,3 μm. Simulirana absorptanca je prikazana na sliki 2 s prekinjeno oranžno krivuljo. Gostota kratkostičnega toka J SC v tem primeru znaša 38,55 ma/cm 2, kar ustreza 82,8-odstotni izrabi spektra. Iz rezultata je očitno, da se je učinkovitost celice bistveno povečala; absorptanca predvsem v dolgovalovnem delu je občutno višja, vrednost J SC je za 12,8 % večja od prejšnjega primera, medtem ko so se optične izgube zaradi odbojnosti zmanjšale za kar 73,8 %, kot je razvidno iz slike 3. Pri razlagi omenjenih izboljšav lahko ponovno govorimo o treh mehanizmih optičnega ujetja, ki jih pogojuje tekstura, realizirana na površini silicijeve plasti [10]. Prvič, zaradi teksture se zmanjša odboj od površine celice, saj del svetlobe, ki se ob prvem naletu sicer odbije od stranic piramid, v nadaljevanju svoje poti vpada na stranice sosednjih piramid, kjer se dodatno prepušča v notranjost strukture. Drugič, zaradi loma na teksturi svetloba v notranjosti celice vstopa pod večjimi koti, kar podaljša optične poti in s tem povečuje absorpcijo v fotoaktivni plasti. In tretjič, svetloba, ki se ji ni uspelo v celoti absorbirati in se po odboju od zadnjega odbojnika vrača proti sprednji strani, je v tem primeru mnogo bolj učinkovito ujeta v strukturi. Na teksturirano površino z notranje strani namreč vpada pod večjimi koti, ki lahko celo presegajo kritični vpadni kot popolnega odboja. Občuten delež svetlobe se zato odbije nazaj proti fotoaktivni plasti, kjer se lahko dodatno absorbira; ta pojav se v simulirani absorptanci na sliki 2 kaže predvsem kot izrazit porast karakteristike v dolgovalovnem delu. Omeniti pa je treba, da vsi omenjeni mehanizmi, ki povečujejo absorpcijo v fotoaktivni plasti, seveda povečujejo tudi parazitno absorpcijo v neaktivnih plasteh. Ta se v primerjavi s prejšnjim primerom skoraj podvoji, kot prikazuje slika 3. V tretjem koraku smo prešli na simulacijo enkapsulirane celice, a sprva še brez teksturirane plasti PDMS na sprednji strani. Celico iz prejšnjega primera smo torej obdali s folijo EVA na obeh straneh ter s steklom na sprednji in folijo TPT na zadnji strani. Simulirana absorptanca je prikazana na sliki 2 s polno zeleno krivuljo. Gostota kratkostičnega toka J SC znaša 37,15 ma/cm 2, kar ustreza 79,8-odstotni izrabi spektra. Rezultati kažejo, da je učinkovitost enkapsulirane celice v primerjavi z golo celico manjša za 3,6 %. Poglavitni razlog je odboj od sprednje površine stekla, ki vpliva na dobre 4 % vpadne svetlobe in je pretežno enakomerno prisoten v celotnem valovnem območju, kar je razvidno iz enakomernega znižanja karakteristike absorptance, prikazane na sliki 2. Dodatno pa se del kratkovalne svetlobe v enkapsulacijskih plasteh tudi absorbira in posledično ne doseže fotoaktivne plasti, kar je na sliki 2 razvidno iz ničelne absorptance pri kratkih valovnih dolžinah do 370 nm. Parazitna absorpcija v enkapsulacijskih plasteh, ki v tem primeru obsega 2,5 % vpadnega spektra, je dodatni vir optičnih izgub in je na sliki 3 prikazana s svojim stolpcem. V zadnjem koraku smo želeli ovrednotiti še vpliv dodatne teksturirane plasti PDMS s tetraedrično teksturo, opisano v prejšnjem razdelku. Dolžina stranic polkock na teksturi je znašala 5,5 μm, maksimalna višina teksture pa 6,36 μm. V preteklih študijah, izvedenih na primeru tankoplastnih organskih in perovskitnih celic, je takšna plast omogočala občutno izboljšanje gostote kratkostičnega toka tudi do 25 % [10]. Vendar pa je treba poudariti, da drugih mehanizmov svetlobnega ujetja v omenjenih celicah ni bilo, medtem ko v primeru heterospojne silicijeve sončne celice učinkovito svetlobno ujetje dosežemo že s teksturo na površini rezine kristalnega silicija. Simulirana absorptanca je prikazana na sliki 2 s polno rdečo krivuljo. Gostota kratkostičnega toka J SC znaša 38,80 ma/cm 2, kar ustreza 83,4-odstotni izrabi spektra. Rezultati kažejo, da z

6 228 uporabo PDMS plasti dosežemo 4,4-odstotno izboljšanje učinkovitosti celice, kar je pričakovano manj kot v primeru tankoplastnih sončnih celic, a vseeno ni zanemarljivo. Mehanizmi optičnega ujetja so pri tem podobni kot v primeru teksture na siliciju; tudi tu gre za zmanjšanje odboja od površine, za podaljšanje optičnih poti in končno za notranje ujetje svetlobe, ki bi se sicer po odboju od zadnjega odbojnika izgubljala iz strukture na sprednji strani. Iz rezultatov lahko tako izluščimo ključno ugotovitev, da uporaba plasti PDMS ne le izniči negativni vpliv enkapsulacije, temveč še dodatno zniža optične izgube zaradi odbite svetlobe, ki v tem primeru obsegajo le še 3 % celotnega vpadnega spektra. Poglavitni vir izgub zdaj ostaja parazitna absorcpija, tako v neaktivnih plasteh celice kot tudi v enkapsulacijskih plasteh. To bi bilo treba na nadaljnji poti razvoja tovrstnih sončnih celic zmanjšati z izboljšanjem optičnih lastnosti obstoječih oziroma z uvedbo morebitnih novih materialov v strukturi. KOVAČIČ, JOŠT, BOKALIČ, LIPOVŠEK 3.2 Optimizacija tetraedrične teksture na površini plasti PDMS V prejšnjem razdelku smo pokazali, da dodatna teksturirana plast PDMS občutno povečuje učinkovitost heterospojne sončne celice. Ostaja pa vprašanje, ali je izbrana oblika oziroma profil teksture hkrati tudi optimalen. Za namen optimizacije profila teksture lahko ponovno uporabimo optične simulacije, osnovane na metodi sklopljenega modeliranja v okolju CROWM. Izvedli smo serijo simulacij, v katerih smo postopoma spreminjali geometrijsko razmerje med višino in periodo teksture, realizirane na površini plasti PDMS. Perioda P heksagonalne teksture, ki je označena v zgornjem levem kotu slike 4, je bila postavljena na 9 μm, medtem ko smo celotno medvršno višino teksture h spreminjali med 0 in 10,5 μm v korakih po 0,5 μm. Za vsako izbrano kombinacijo višine in periode smo izvedli simulacijo celotne sončne celice in izračunali vrednost gostote kratkostičnega toka J SC. Rezultati so prikazani na sliki 4. Slika 2: Absorptanca v fotoaktivni plasti heterospojne silicijeve sončne celice za štiri različne primere. Slika 3: Porazdelitev spektra na uporabno gostoto kratkostičnega toka ter izgube zaradi odboja od strukture, parazitne absorpcije v neaktivnih plasteh in parazitne absorpcije v enkapsulacijskih plasteh. Slika 4: Gostota kratkostičnega toka heterospojne silicijeve sončne celice v odvisnosti od geometrijskega razmerja tetraedrične teksture, realizirane na površini plasti PDMS. V vseh primerih je upoštevana perioda teksture P = 9 μm. Potek spreminjanja vrednosti J SC s povečevanjem višine teksture h izkazuje tri značilna območja, ki so na sliki 4 označena z oznakami A, B in C. V prvem območju A pri nizkih vrednostih h gostota kratkostičnega toka J SC sprva pada. Z višanjem teksture se namreč povečuje vpadni kot naleta svetlobe na površino, kar povečuje odboj in z njim povezane izgube. Ko vrednost h nadalje povečujemo, dosežemo točko, ko začne odbita svetloba vpadati na sosednje stranice na teksturi, pri čemer del te svetlobe vstopa v strukturo. Nastopi območje B, kjer izgube zaradi odboja začnejo strmo padati, vrednosti J SC pa pri tem rastejo. Končno dosežemo še območje C, kjer kombinacija vseh treh mehanizmov optičnega ujetja, opisanih v prejšnjem razdelku, zagotavlja visoko stopnjo absorpcije v fotoaktivni plasti in s tem visoke vrednosti gostote kratkostičnega toka J SC. Rezultati kažejo, da moramo za optimalno delovanje obravnavane heterospojne silicijeve sončne celice izbrati tetraedrično

7 SKLOPLJENO OPTIČNO MODELIRANJE SODOBNIH OPTOELEKTRONSKIH GRADNIKOV 229 teksturo z višino h med 6 in 8 μm pri periodi P = 9 μm, kar ustreza geometrijskemu razmerju h/p = 0,67 0,89. V zadnjem koraku raziskave pa smo izvedli še podrobnejše simulacije v območju C z željo poiskati optimalno obliko tetraedrične teksture. Rezultati so prikazani v manjšem grafu na sliki 4. Iz rezultatov je razvidno, da v omenjenem območju vrednosti J SC ne odstopajo bistveno od povprečne vrednosti (manj kot 1 %), kljub temu pa absolutno največjo vrednost dosežemo pri teksturi z višino h opt = 6,36 μm, pri teksturi, pri kateri stranice tetraedrov druga z drugo oklepajo ravno pravi kot. S stališča optičnega ujetja v heterospojnih silicijevih sončnih celicah torej ta tip teksture, realizirane na površini plasti PDMS, zagotavlja največje učinkovitosti pretvorbe sončne energije v električno. 4 ORGANSKE SVETLEČE DIODE V zadnjih letih lahko opazimo hitro širjenje novih, t. i. polprevodniških svetlobnih virov, osnovanih na svetlečih diodah (LED). Med njimi prevladujejo neorganske izvedbe iz kristalnih polprevodniških materialov, ki so že močno razširjene na trgu, saj omogočajo visoke učinkovitosti in dolgo življenjsko dobo. Kot komplementarna neorganskim pa se čedalje bolj uveljavlja tudi relativno nova tehnologija organskih svetlečih diod (OLED), ki je že močno razširjena med zasloni (televizije, pametni telefoni), ponuja pa tudi možnosti za splošno notranjo in zunanjo osvetlitev. OLED-tehnologija obeta ceneno izdelavo velikih panelnih svetlobnih virov na togih ali fleksibilnih substratih s kakovostno homogeno osvetlitvijo, ki jih je mogoče izdelati tudi kot deloma prozorne (npr. OLEDokna), vse to pa ponuja veliko svobode tudi oblikovalcem in arhitektom [21]. Ker notranje učinkovitosti sodobnih OLED, osnovanih na fosforescenci [22] in toplotno aktivirani zakasnitveni fluorescenci (angl. thermally activated delayed fluorescence, TADF [23]), že dosegajo 100 %, glavni omejitveni faktor ostaja nizka stopnja izstopa svetlobe iz strukture v zrak. Za enostavne naprave ta znaša le od 20 do 30 %. Izstop svetlobe omejujejo trije glavni dejavniki. Prva dva sta povezana s popolnim notranjim odbojem, ki se zgodi pri prehodu svetlobe iz materiala z višjim v material z nižjim lomnim količnikom. V OLED se to zgodi na meji med tankoplastno organsko strukturo (n ~ 1,7 1,8) in steklenim substratom (n ~ 1,5) ta odboj prispeva k t. i. valovodnim izgubam ter na meji med steklenim substratom (n ~ 1,5) in zrakom (n = 1) ta odboj pa prispeva k t. i. izgubam substrata. V zadnjih letih je bilo veliko napredka pri izboljšanju izstopa svetlobe iz OLED [24], vendar še vedno obstaja veliko prostora za izboljšave; ena izmed takšnih bo raziskana tudi v tem prispevku. Tretji glavni dejavnik optičnih izgub pa so izgube na kovinskih kontaktih, kjer se svetloba lahko spaja s površinskimi plazmonskimi polaritoni (angl. surface plasmon polaritons, SPP). Manjše optične izgube povzročajo še parazitne absorpcije in odboji znotraj OLED-strukture [25]. Tako kot pri sončnih celicah je tudi pri OLED-zgradba osnovana na kombinaciji optično tankih in debelih plasti. Primer strukture rdeče OLED z oznakami in debelinami posameznih plasti je predstavljen na sliki 5. Svetloba se generira v tanki emisijski plasti (angl. emission layer, EML) s sevalnimi rekombinacijami elektronov in vrzeli. Za zagotavljanje dovolj velikega števila obojih so dodane (opcijske) transportne plasti tako za elektrone (angl. electron transport layer, ETL) kot tudi za vrzeli (angl. hole transport layer, HTL). Dodane so še (opcijske) blokirne plasti za elektrone in vrzeli (angl. electron/hole blocking layer, EBL in HBL), ki zadržujejo nosilce naboja v emisijski plasti in tako povečujejo možnost sevalnih rekombinacij. Kontakti so zagotovljeni preko svetlobno neprepustne, močno odbojne srebrne (Ag) katode in zelo tanke, ter zatorej svetlobno prepustne srebrne anode. Pogosto se za anodo uporablja tudi svetlobno prepusten z indijem dopiran kositrov oksid (ITO). Anodo dopolnjujeta še tanki plasti zlata (Au) in molibdenovega oksida (MoO 3), ki zagotavljata enakomerno, homogeno porazdelitev tanke plasti srebra. Dodatna ločitvena plast je dodana za boljši oprijem organskih plasti na steklu. Celotna tankoplastna struktura je položena na steklen substrat in zaščitena z enkapsulacijo. Primer izdelave OLED z vsemi podrobnosti o uporabljenih materialih in postopkih je predstavljen v [11]. Dodatno je na strani substrata, kjer ni organskih plasti, lahko dodana še tanka površinsko teksturirana folija na osnovi polidimetilsiloksana (PDMS). Takšne folije s teksturami v mikrometrskem velikostnem razredu so se z optičnega stališča izkazale kot zelo učinkovite v primeru sončnih celic (gl. prejšnje poglavje), zdaj pa bomo njihov potencial za izboljšanje izstopa svetlobe raziskali še v primeru OLED-struktur. Slika 5: Shematski prerez OLED-strukture z označenimi plastmi in pripadajočimi debelinami. Prva podana debelina je optimalna za OLED brez teksture in druga za OLED s teksturo. Debeline plasti niso risane v pravem razmerju. Uporabljena tetraedrična tekstura je prikazana na sliki 1.

8 230 V sklopu tega prispevka se primarno osredotočimo na zmanjšanje izgub zaradi odboja na meji med substratom in zrakom (izgube substrata). Za ta namen bomo pozneje na meji uporabili površinsko teksturirano folijo PDMS, ki lahko bistveno poveča možnost izstopa svetlobe v zrak zaradi zmanjšanega učinka odboja pri velikih vpadnih kotih (predvsem nad kritičnim). Vendar pa za končno optimizacijo, torej pri iskanju visoke EQE, zgolj apliciranje teksturirane folije ni dovolj; na izstop svetlobe namreč vpliva še mnogo drugih dejavnikov, ki so med seboj prepleteni in se med optimizacijo strukture lahko tudi spreminjajo. Na izstop svetlobe iz OLED-strukture vplivajo predvsem lastnosti materialov in druge omejitve, na katere nimamo neposrednega vpliva. Optične lastnosti materialov ter pomen optično tankih in debelih plasti smo že opisali v prejšnjih poglavjih. Sledi anizotropni koeficient a, ki podaja orientacijo sevalnih dipolov in vpliva tako na razmerje med TE- in TM-komponento sevane svetlobe kot tudi na notranjo kotno porazdelitev njene intenzitete. Za primer obravnavane OLED je eksperimentalno izmerjen a = 0,24 [26] in med optimizacijo ostaja konstanten. Nadalje na EQE vpliva električna učinkovitost γ, ki je odvisna predvsem od lastnosti emisijskega materiala ter električnih lastnosti tankoplastne strukture. Ker so električne in optične lastnosti tankih plasti močno prepletene, pa moramo pri optični optimizaciji strukture upoštevati določene omejitve. V našem primeru OLED obravnavamo z idealnimi električnimi lastnostmi, γ = 1. Ker so debeline plasti EML, HBL in EBL že optimizirane za dosego maksimalnega števila sevalnih rekombinacij v EML, jih v nadaljevanju ne smemo več spreminjati. Tudi debeline Ag-anode ne moremo poljubno spreminjati, saj smo omejeni z minimalno debelino 4 nm, ki še zagotavlja dobre kontaktne lastnosti. Lahko pa z minimalnim vplivom na električne lastnosti skoraj poljubno spreminjamo debeline plasti ETL in HTL, kar nam daje veliko svobode pri optimizaciji optične mikrovotline in s tem povezanih interferenčnih učinkov. Dodaten parameter, ki je odvisen od uporabljenega emisijskega materiala, je tudi lastna sevalna učinkovitost, ki za dano OLED znaša η rad = 0,7. Od nje je preko enačbe (4) odvisna efektivna sevalna učinkovitost η rad,e, ki pa je močno odvisna tudi od optične votline, ki jo lahko deloma uravnavamo s spreminjanjem debelin tankih plasti. Bistveno največ pa lahko na izstop svetlobe iz OLEDstrukture vplivamo s spreminjanjem debelin posameznih plasti v tankoplastni strukturi (z upoštevanjem zgoraj omenjenih omejitev), saj s tem vplivamo na med seboj tesno prepletene pojave, kot so učinek konstruktivne oz. destruktivne interference, spajanje s SPP, spreminjanje optične mikrovotline, spreminjanje kotne porazdelitve intenzitete svetlobe itd. S spreminjanjem debeline ETL in/ali HTL lahko pomaknemo emisijo stran od kovinskih kontaktov, s čimer zmanjšamo spajanje svetlobe s SPP, vendar KOVAČIČ, JOŠT, BOKALIČ, LIPOVŠEK obenem razširimo organski valovod, s čimer povečamo izgube valovoda [25]. Z nastavljanjem debeline anode (primarno Ag) spreminjamo t. i. moč mikrovotline; debelejša ko je Ag-anoda, učinkoviteje odbija svetlobo, kar rezultira v močnejšem votlinskem učinku. To lahko s pravilno optimizacijo vodi v bolj usmerjeno svetlobo, v manjše kote, pod katerimi svetloba lažje izstopa iz strukture, hkrati pa močna votlina (velik F) izboljša tudi η rad,e, kar pomeni manjše sevalne izgube. Po drugi strani pa se z večanjem debeline Ag-anode stopnjujejo optične izgube zaradi parazitne absorpcije v kovinski elektrodi. Poleg zgoraj opisanega spreminjanja posameznih plasti pa moramo obenem s kombinacijo vseh debelin tankih plasti hkrati ustvariti ugodne pogoje za kar največji izstop svetlobe v valovnem območju emisije s pomočjo konstruktivne interference. Ker so vsi omenjeni pojavi (moč votline, interferenca, parazitna absorpcija, vpliv teksture) močno prepleteni in soodvisni, pa mora biti optimizacija izvedena kot celota in kot kompromis med vsemi lastnostmi za optimalen izstop svetlobe. 4.1 Optimizacija debelin plasti Optimizacijo tankih plasti za največji izstop svetlobe smo izvedli za primer treh različnih konfiguracij OLEDstruktur. Prva je struktura s povsem gladkimi plastmi brez tekstur, ki je služila kot referenca za nadaljnje izboljšave; označili smo jo kot struktura OLED A. Druga konfiguracija OLED B je prav tako brez tekstur, vendar pa smo debeline tankih plasti v njenem primeru optimizirali za največji možni izstop svetlobe v substrat (ampak ne nujno v zrak). To smo izvedli s pomočjo dodatne simulacije s poenostavljeno strukturo, v kateri smo upoštevali neskončno plast stekla na sprednji strani. Na koncu pa smo izvedli optimizacijo debelin še za celotno strukturo z dodatno teksturirano plastjo PDMS na sprednji strani; to strukturo smo označili kot OLED C. Optimalne debeline omenjenih treh struktur so bile določene z uporabo sklopljenega optičnega modela, implementiranega v optičnem simulatorju CROWM, in s pomočjo optimizacijskega algoritma, ki je poiskal največjo EQE za posamezno strukturo. Optimalne debeline za vse tri primere so podane v tabeli 1. Tabela 1: Optimalne debeline plasti različnih struktur OLED. S krepkim tiskom so označene plasti, ki so bile optimizirane. OLED A OLED B OLED C substrat 1.1 mm 1.1 mm 1.1 mm ločitvena plast 36 nm 63 nm 10 nm MoO 3 54 nm 1 nm 1 nm Au 1 nm 1 nm 1 nm Ag-anoda 17 nm 7 nm 4 nm HTL 41 nm 42 nm 33 nm EBL 10 nm 10 nm 10 nm EML 20 nm 20 nm 20 nm HBL 10 nm 10 nm 10 nm ETL 61 nm 83 nm 88 nm Ag-katoda 100 nm 100 nm 100 nm

9 SKLOPLJENO OPTIČNO MODELIRANJE SODOBNIH OPTOELEKTRONSKIH GRADNIKOV 231 Rezultate optimizacije debelin plasti iz tabele 1 bomo v nadaljevanju analizirali skupaj z analizo optičnih razmer v vsaki izmed OLED-struktur A, B in C. Pri tem se bomo osredotočili predvsem na valovno odvisno karakteristiko izstopa svetlobe (γ η rad,e (λ) η out (λ)), ki bo za vsak simulirani primer prikazana na sliki 6, ter na relativno porazdelitev generirane svetlobne moči med uporabno (izsevano v zrak) in izgubljeno (zaradi različnih izgubnih mehanizmov), kar bo za vsak primer prikazano na sliki 7. Z optimizacijo tankih plasti pri OLED A (brez dodatnih tekstur) že takoj dosežemo visoko EQE = 29,2 %. V optimizirani strukturi najprej opazimo dokaj debelo Ag-anodo (17 nm), kar nakazuje na relativno visoko odbojnost in zaradi tega močan učinek optične votline. To potrjujeta tudi izračunani Purcellov faktor z največjimi vrednostmi F > 2,4. Dodatno lahko iz rezultatov na sliki 6 opazimo močno valovno odvisnost izstopa svetlobe, ki je pogojena z debelinami vseh tankih plasti in je največja pri valovni dolžini okrog 640 nm, nato pa strmo pada proti daljšim in krajšim valovnim dolžinam. Močan votlinski učinek ima pri tej strukturi dve glavni posledici, ki vplivata na visoko EQE. Prva je prednostna usmerjenost svetlobe v majhne kote, zaradi česar lahko večina svetlobe izstopi v zrak in je samo manjši del izgubljen zaradi popolnega notranjega odboja. To se na sliki 7 deloma kaže tudi v majhnem deležu izgub v substratu (~8 %). Poleg tega pa se zaradi visoke vrednosti Purcellovega faktorja poveča efektivna sevalna učinkovitost η rad,e oziroma se zmanjšajo neoptične izgube (1 η rad,e ). Te znašajo le ~17 %, medtem ko bi v primeru F = 1, torej brez učinka optične votline, znašale 30 %. Zdaj pa analizirajmo še primer, ko bi strukturi OLED A na sprednji strani dodali površinsko teksturirano plast PDMS, s katero želimo spremeniti odbojne lastnosti na meji med substratom in zrakom ter tem izboljšati učinkovitost izstopa svetlobe. Simulacije v tem primeru pokažejo le majhno izboljšanje; EQE naraste z 29,2 % na 30,5 %. Rezultati na sliki 7 kažejo, da so neoptične izgube enake kot za strukturo brez teksture, saj zunanja tekstura ni v stiku z organskimi plastmi in ne vpliva na električne izgube. Hkrati tudi ne vpliva na optično votlino, saj je plast PDMS na drugi strani optično debelega substrata, zato tudi η rad,e ostane enaka. Izgube v substratu pa se zmanjšajo skoraj na nič, kar kaže na učinkovitost teksture pri izstopu svetlobe. Razlog za le minimalno povečanje EQE je dejstvo, da je struktura optimizirana za situacijo z gladkimi mejami med plastmi, brez tekstur. Optimalni parametri zagotavljajo, da je svetloba v tem primeru izsevana v majhne kote, ki ji omogočajo izstop iz strukture, vendar s tem že v izhodišču omejimo skupno količino svetlobe, ki vstopa v substrat. Naslednji korak v optimizaciji izstopa svetlobe je bila optimizacija tankih plasti tako, da čim več svetlobe prehaja v substrat, od koder bi nato s pomočjo teksture lahko izstopila v okoliški zrak. To optimizacijo smo izvedli s pomočjo strukture OLED B. Če na strukturo dodamo še teksturirano plast PDMS, dobimo mnogo večjo EQE = 39,2 %. Vendar pa rezultat v tem primeru ni povsem realen, saj smo pri optimizaciji strukture OLED B zanemarili povratne odboje od meje med substratom in zrakom nazaj v notranjost strukture. Slika 6: Izstop svetlobe (γ η rad,e (λ) η out (λ)) v odvisnosti od valovne dolžine za tri primere OLED-strukture (A, B in C). Dodan je sevalni spekter rdeče OLED. Slika 7: Porazdelitev generirane svetlobne moči na izsevano (uporabno), neoptične izgube (1 η rad,e ), izgube v tankih plasteh (parazitna absorpcija v organskih plasteh in kontaktih) ter izgube substrata. Rezultati so prikazani za OLED-strukturi A in C brez teksturirane plasti in z dodano teksturirano plastjo PDMS. Zato smo izvedli še optimizacijo celotne strukture s teksturirano plastjo PDMS OLED C. Najprej analiziramo optične razmere v strukturi brez teksture s povsem gladkimi mejami med plastmi. Tukaj dosežemo zelo majhno EQE = 17,1 %, ki je precej manjša od strukture OLED A. Eden izmed razlogov za majhno EQE se vidi v povečanih izgubah v substratu; zdaj sicer mnogo več svetlobe vstopi v substrat, vendar pod velikimi koti, kjer se svetloba popolnoma notranje odbije in ostane ujeta v substratu. Učinek močne optične votline, ki je v primeru OLED A preferiral usmerjeno emisijo v majhne

10 232 kote, je zdaj nadvladan z minimizacijo parazitne absorpcije, kar se kaže pri optimalni debelini Ag-anode, ki doseže svoj minimum 4 nm. Zaradi majhne debeline se tudi zmanjša učinek optične votline (F < 1.8), kar vpliva še na η rad,e in posledično na večje neoptične izgube (> 22 %). Ne nazadnje pa se manjši vpliv optične votline kaže tudi v manj izraziti valovni odvisnosti izstopa svetlobe, ki je prikazan na sliki 6; ta pojav je še zlasti izrazit pri strukturah OLED B in C z dodatno teksturirano plastjo PDMS, kjer lahko opazimo široko valovno območje z visokim deležem izsevane svetlobe. Ko strukturi OLED C dodamo še teksturirano plast PDMS, opazimo velik porast EQE na kar 40,8 % in padec izgub v substratu skoraj na nič. Večina svetlobe, ki je bila prej ujeta zaradi popolnega notranjega odboja na meji med steklom in zrakom, zdaj zaradi dodane teksture na površini plasti PDMS lahko izstopa v zrak. Neoptične izgube ostanejo enake, saj dodana tekstura ne vpliva na optično votlino oz. preostale električne lastnosti OLED, medtem ko se kot primarni vir izgub (> 35 %) zdaj kažejo organske in kontaktne plasti. Poudariti je treba še to, da smo, čeprav imamo pri strukturi C v substratu na voljo manj svetlobe za izstop v zrak (50,01 % generirane svetlobe doseže substrat) kot v strukturi B (51,1 %), dobili višjo EQE, saj je optimizacija tankih plasti upoštevala tudi vpliv povratnih odbojev od teksture nazaj v notranjost strukture. Izvedli smo torej globalno optimizacijo celotnega sistema, tako tankoplastnega dela kot tudi dela s substratom in površinsko teksturirano plastjo PDMS. KOVAČIČ, JOŠT, BOKALIČ, LIPOVŠEK EQE z višanjem razmerja h/p, ki pri višini okrog 3 μm doseže nasičenje, v katerem so nadaljnje spremembe dokaj majhne. To se sklada s teorijo, da za izstop svetlobe iz substrata ni toliko pomembna oblika teksture, ampak predvsem zmožnost zagotavljanja zadostne preusmeritve žarkov, ki jim bo nato sčasoma uspelo zapustiti substrat [27]. Vseeno med rezultati lahko poiščemo optimum; za primer končne strukture OLED C je razvidno, da največjo EQE = 41,3 % dosežemo pri višini teksture h = 7,5 um (geometrijsko razmerje h/p = 0,83). Ta vrednost EQE je ena izmed višjih vrednosti za rdečo OLED z zunanjo teksturo, presega pa tudi EQE, doseženo z uporabo heksagonalnih paraboličnih tekstur [11, 28]. Rezultati torej potrjujejo, da imajo tetraedrične teksture izjemen potencial za izboljšanje optičnih razmer, ne le v sončnih celicah, temveč tudi v sodobnih OLED. 4.2 Optimizacija teksture Do zdaj smo v optimizacijo vključili profil teksturirane površine plasti PDMS, ki temelji na regularni tetraedrični teksturi, v kateri stranice druga z drugo oklepajo pravi kot. Vendar pa se poraja vprašanje, ali lahko še povečamo učinkovitost izstopa svetlobe z optimizacijo same teksture. S pomočjo simulacij tokrat raziščemo razmerje med višino h in periodo P teksture za vse tri različne strukture OLED A, B in C. Za namen optimizacije profila teksture smo ponovno uporabili optične simulacije, osnovane na metodi sklopljenega modeliranja. Podobno kot pri sončnih celicah v poglavju 3.2 smo izvedli serijo simulacij, v katerih smo postopoma spreminjali geometrijsko razmerje med višino in periodo teksture, realizirane na površini plasti PDMS. Perioda P heksagonalne teksture, ki je označena v spodnjem desnem kotu slike 8, je bila postavljena na 9 μm, medtem ko smo celotno medvršno višino teksture h spreminjali med 0 in 10,5 μm v korakih po 0,5 μm. Rezultati so predstavljeni na sliki 8. Za primer strukture OLED A oblika teksture le minimalno vpliva na EQE; rezultat še enkrat jasno kaže, da brez optimizacije tankih plasti tudi pozitivnih lastnosti teksturirane plasti ne moremo učinkovito izrabiti. Rezultati za strukturi OLED B in C pa po drugi strani kažejo zelo hiter vzpon Slika 8: Zunanja kvantna učinkovitost za različne konfiguracije OLED-struktur (A, B in C) v odvisnosti od višine tetraedrične teksture. S prekinjenimi črtami so dodane še največje mogoče učinkovitosti pri upoštevanju 100 % izstopa svetlobe iz substrata v zrak, ki hkrati določajo tudi limito EQE vrednosti posamezne strukture (brez dodatnih ukrepov). 5 ZAKLJUČEK V tem delu smo s pomočjo sklopljenega optičnega modeliranja s simulatorjem CROWM analizirali optične razmere v visokoučinkovitih heterospojnih sončnih celicah in organskih svetlečih diodah. Posvetili smo se predvsem analizi optičnih izgub in izboljšavam, ki jih lahko dosežemo z uporabo površinsko teksturirane plasti PDMS na sprednji strani strukture, katere geometrijski profil smo tudi optimizirali. Rezultati kažejo, da v heterospojnih sončnih celicah, realiziranih na teksturiranih rezinah kristalnega silicija, z enkapsulacijo izgubimo 1,40 ma/cm 2 ( 3,6 %) kratkostičnega toka. Pri uporabi dodatne plasti PDMS z optimalno tetraedrično teksturo pa lahko kratkostični tok povečamo za 1,64 ma/cm 2 (+ 4,4 %) in s tem izničimo negativni vpliv enkapsulacije. Glavni vir optičnih izgub ostaja predvsem parazitna absorpcija v neaktivnih plasteh strukture, ki v ekvivalentu kratkostičnega toka znaša 4,98 ma/cm 2.

1 Naloge iz Matematične fizike II /14 1. Enakomerno segreto kocko vržemo v hladnejšo vodo stalne temperature. Kako se spreminja s časom temperat

1 Naloge iz Matematične fizike II /14 1. Enakomerno segreto kocko vržemo v hladnejšo vodo stalne temperature. Kako se spreminja s časom temperat 1 Naloge iz Matematične fizike II - 2013/14 1. Enakomerno segreto kocko vržemo v hladnejšo vodo stalne temperature. Kako se spreminja s časom temperatura v kocki? Kakšna je časovna odvisnost toplotnega

Prikaži več

1. Električne lastnosti varikap diode Vsaka polprevodniška dioda ima zaporno plast, debelina katere narašča z zaporno napetostjo. Dioda se v zaporni s

1. Električne lastnosti varikap diode Vsaka polprevodniška dioda ima zaporno plast, debelina katere narašča z zaporno napetostjo. Dioda se v zaporni s 1. Električne lastnosti varikap diode Vsaka polprevodniška dioda ima zaporno plast, debelina katere narašča z zaporno napetostjo. Dioda se v zaporni smeri obnaša kot nelinearen kondenzator, ki mu z višanjem

Prikaži več

Fizikalne osnove svetlobe

Fizikalne osnove svetlobe Fizikalne osnove svetlobe Svetloba Svetloba - skrivnostna in fascinantna spremljevalka človekove zgodovine Kako deluje vid? Svetloba in vid Dva pojma, ki sta danes neločljivo povezana. Vendar ni bilo vedno

Prikaži več

15. Seminar Optične Komunikacije Laboratorij za Sevanje in Optiko Fakulteta za Elektrotehniko Ljubljana, 30.jan - 1.feb 2008 Osnovne omejitve svetlobn

15. Seminar Optične Komunikacije Laboratorij za Sevanje in Optiko Fakulteta za Elektrotehniko Ljubljana, 30.jan - 1.feb 2008 Osnovne omejitve svetlobn 15. Seminar Optične Komunikacije Laboratorij za Sevanje in Optiko Fakulteta za Elektrotehniko Ljubljana, 30.jan - 1.feb 2008 Osnovne omejitve svetlobnega vlakna Matjaž Vidmar Seznam prosojnic: Slika 1

Prikaži več

(Microsoft PowerPoint - MBTLO7_Mikrostrukturna opti\350na vlakna [Read-Only] [Compatibility Mode])

(Microsoft PowerPoint - MBTLO7_Mikrostrukturna opti\350na vlakna [Read-Only] [Compatibility Mode]) Teme prihodnjih predavanj Uvod v nastanek optičnih komunikacij Temeljni optični pojavi Optično vlakno Slabljenje v optičnem vlaknu Disperzija v optičnem vlaknu Kompenzacija disperzije Nelinearnost v optičnem

Prikaži več

Univerza v Ljubljani FAKULTETA ZA RAČUNALNIŠTVO IN INFORMATIKO Tržaška c. 25, 1000 Ljubljana Realizacija n-bitnega polnega seštevalnika z uporabo kvan

Univerza v Ljubljani FAKULTETA ZA RAČUNALNIŠTVO IN INFORMATIKO Tržaška c. 25, 1000 Ljubljana Realizacija n-bitnega polnega seštevalnika z uporabo kvan Univerza v Ljubljani FAKULTETA ZA RAČUNALNIŠTVO IN INFORMATIKO Tržaška c. 25, 1000 Ljubljana Realizacija n-bitnega polnega seštevalnika z uporabo kvantnih celičnih avtomatov SEMINARSKA NALOGA Univerzitetna

Prikaži več

Microsoft PowerPoint - OVT_4_IzolacijskiMat_v1.pptx

Microsoft PowerPoint - OVT_4_IzolacijskiMat_v1.pptx Osnove visokonapetostne tehnike Izolacijski materiali Boštjan Blažič bostjan.blazic@fe.uni lj.si leon.fe.uni lj.si 01 4768 414 013/14 Izolacijski materiali Delitev: plinasti, tekoči, trdni Plinasti dielektriki

Prikaži več

PowerPoint Presentation

PowerPoint Presentation Lasersko obarvanje kovin Motivacija: Z laserskim obsevanjem je možno spremeniti tudi barvo kovinskih površin, kar odpira povsem nove možnosti označevanja in dekoracije najrazličnejših sestavnih delov in

Prikaži več

Gorivna celica

Gorivna celica Laboratorij za termoenergetiko Delovanje gorivnih celic Najbolj uveljavljeni tipi gorivnih celic Obstaja veliko različnih vrst gorivnih celic, najpogosteje se jih razvršča glede na vrsto elektrolita Obratovalna

Prikaži več

UNIVERZA V LJUBLJANI PEDAGOŠKA FAKULTETA DAVID PUNGERT MERJENJE UČINKOVITOSTI SVETIL V FIZIOLOŠKEM MERILU DIPLOMSKO DELO LJUBLJANA, 2016

UNIVERZA V LJUBLJANI PEDAGOŠKA FAKULTETA DAVID PUNGERT MERJENJE UČINKOVITOSTI SVETIL V FIZIOLOŠKEM MERILU DIPLOMSKO DELO LJUBLJANA, 2016 UNIVERZA V LJUBLJANI PEDAGOŠKA FAKULTETA DAVID PUNGERT MERJENJE UČINKOVITOSTI SVETIL V FIZIOLOŠKEM MERILU DIPLOMSKO DELO LJUBLJANA, 2016 UNIVERZA V LJUBLJANI PEDAGOŠKA FAKULTETA DVOPREDMETNI UČITELJ:

Prikaži več

Prevodnik_v_polju_14_

Prevodnik_v_polju_14_ 14. Prevodnik v električnem polju Vsebina poglavja: prevodnik v zunanjem električnem polju, površina prevodnika je ekvipotencialna ploskev, elektrostatična indukcija (influenca), polje znotraj votline

Prikaži več

ELEKTRONIKA ŠTUDIJ ELEKTRONIKE

ELEKTRONIKA ŠTUDIJ ELEKTRONIKE ELEKTRONIKA ŠTUDIJ ELEKTRONIKE Umetni nos, Laboratorij za mikroelektroniko, FE Odprtokodni instrument, Red Pitaya, Ljubljana Senzorji krvnega tlaka, Hyb, Šentjernej Elaphe, elektronika omogoča električno

Prikaži več

Atomska spektroskopija PROSTI ATOMI VZBUJENI ATOMI Marjan Veber Metode atomske/elementne masne/ spektrometrije Elektronska konfiguracija Mg

Atomska spektroskopija PROSTI ATOMI VZBUJENI ATOMI Marjan Veber Metode atomske/elementne masne/ spektrometrije Elektronska konfiguracija Mg Atomska spektroskopija PROSTI ATOMI VZBUJENI ATOMI Metode atomske/elementne masne/ spektrometrije Elektronska konfiguracija Mg Mg e 1s 2s2p 3d 4s 3p 3s e Po dogovoru ima osnovno elektronsko stanje energijo

Prikaži več

Microsoft Word - A-3-Dezelak-SLO.doc

Microsoft Word - A-3-Dezelak-SLO.doc 20. posvetovanje "KOMUNALNA ENERGETIKA / POWER ENGINEERING", Maribor, 2011 1 ANALIZA OBRATOVANJA HIDROELEKTRARNE S ŠKOLJČNIM DIAGRAMOM Klemen DEŽELAK POVZETEK V prispevku je predstavljena možnost izvedbe

Prikaži več

2019 QA_Final SL

2019 QA_Final SL Predhodni prispevki v enotni sklad za reševanje za leto 2019 Vprašanja in odgovori Splošne informacije o metodologiji izračuna 1. Zakaj se je metoda izračuna, ki je za mojo institucijo veljala v prispevnem

Prikaži več

UNIVERZA V LJUBLJANI FAKULTETA ZA MATEMATIKO IN FIZIKO Katja Ciglar Analiza občutljivosti v Excel-u Seminarska naloga pri predmetu Optimizacija v fina

UNIVERZA V LJUBLJANI FAKULTETA ZA MATEMATIKO IN FIZIKO Katja Ciglar Analiza občutljivosti v Excel-u Seminarska naloga pri predmetu Optimizacija v fina UNIVERZA V LJUBLJANI FAKULTETA ZA MATEMATIKO IN FIZIKO Katja Ciglar Analiza občutljivosti v Excel-u Seminarska naloga pri predmetu Optimizacija v financah Ljubljana, 2010 1. Klasični pristop k analizi

Prikaži več

Microsoft Word - Avditorne.docx

Microsoft Word - Avditorne.docx 1. Naloga Delovanje oscilatorja je odvisno od kapacitivnosti kondenzatorja C. Dopustno območje izhodnih frekvenc je podano z dopustnim območjem kapacitivnosti C od 1,35 do 1,61 nf. Uporabljen je kondenzator

Prikaži več

7. VAJA A. ENAČBA ZBIRALNE LEČE

7. VAJA A. ENAČBA ZBIRALNE LEČE 7. VAJA A. ENAČBA ZBIRALNE LEČE 1. UVOD Enačbo leče dobimo navadno s pomočjo geometrijskih konstrukcij. V našem primeru bomo do te enačbe prišli eksperimentalno, z merjenjem razdalj a in b. 2. NALOGA Izračunaj

Prikaži več

Diapozitiv 1

Diapozitiv 1 Vhodno-izhodne naprave naprave 1 Uvod VIN - 1 2018, Igor Škraba, FRI Vsebina 1 Uvod Signal električni signal Zvezni signal Diskretni signal Digitalni signal Lastnosti prenosnih medijev Slabljenje Pasovna

Prikaži več

dr. Andreja Šarlah Teorijska fizika II (FMF, Pedagoška fizika, 2010/11) kolokviji in izpiti Vsebina Kvantna mehanika 2 1. kolokvij 2 2. kolokvij 4 1.

dr. Andreja Šarlah Teorijska fizika II (FMF, Pedagoška fizika, 2010/11) kolokviji in izpiti Vsebina Kvantna mehanika 2 1. kolokvij 2 2. kolokvij 4 1. dr. Andreja Šarlah Teorijska fizika II (FMF, Pedagoška fizika, 2010/11) kolokviji in izpiti Vsebina Kvantna mehanika 2 1. kolokvij 2 2. kolokvij 4 1. izpit 5 2. izpit 6 3. izpit (2014) 7 Termodinamika

Prikaži več

POROČILO IZ KONSTRUKCIJSKE GRADBENE FIZIKE PROGRAM WUFI IZDELALI: Jaka Brezočnik, Luka Noč, David Božiček MENTOR: prof. dr. Zvonko Jagličič

POROČILO IZ KONSTRUKCIJSKE GRADBENE FIZIKE PROGRAM WUFI IZDELALI: Jaka Brezočnik, Luka Noč, David Božiček MENTOR: prof. dr. Zvonko Jagličič POROČILO IZ KONSTRUKCIJSKE GRADBENE FIZIKE PROGRAM WUFI IZDELALI: Jaka Brezočnik, Luka Noč, David Božiček MENTOR: prof. dr. Zvonko Jagličič 1.O PROGRAMSKO ORODJE WUFI Program WUFI nam omogoča dinamične

Prikaži več

ELEKTRIČNI NIHAJNI KROG TEORIJA Električni nihajni krog je električno vezje, ki služi za generacijo visokofrekvenče izmenične napetosti. V osnovi je "

ELEKTRIČNI NIHAJNI KROG TEORIJA Električni nihajni krog je električno vezje, ki služi za generacijo visokofrekvenče izmenične napetosti. V osnovi je ELEKTRIČNI NIHAJNI KROG TEORIJA Električni nihajni krog je električno vezje, ki služi za generacijo visokofrekvenče izmenične napetosti. V osnovi je "električno" nihalo, sestavljeno iz vzporedne vezave

Prikaži več

DES

DES Laboratorij za načrtovanje integriranih vezij Univerza v Ljubljani Fakulteta za elektrotehniko Digitalni Elektronski Sistemi Digitalni sistemi Vgrajeni digitalni sistemi Digitalni sistem: osebni računalnik

Prikaži več

STAVKI _5_

STAVKI _5_ 5. Stavki (Teoremi) Vsebina: Stavek superpozicije, stavek Thévenina in Nortona, maksimalna moč na bremenu (drugič), stavek Tellegena. 1. Stavek superpozicije Ta stavek določa, da lahko poljubno vezje sestavljeno

Prikaži več

Diapozitiv 1

Diapozitiv 1 Vhodno izhodne naprave Laboratorijska vaja 5 - LV 1 Meritve dolžine in karakteristične impedance linije VIN - LV 1 Rozman,Škraba, FRI Model linije Rs Z 0, Vs u i u l R L V S - Napetost izvora [V] R S -

Prikaži več

Požarna odpornost konstrukcij

Požarna odpornost konstrukcij Požarna obtežba in razvoj požara v požarnem sektorju Tomaž Hozjan e-mail: tomaz.hozjan@fgg.uni-lj.si soba: 503 Postopek požarnega projektiranja konstrukcij (SIST EN 1992-1-2 Izbira za projektiranje merodajnih

Prikaži več

(Microsoft PowerPoint - MBTLO17_Razvr\232\350anje WDM [Compatibility Mode])

(Microsoft PowerPoint - MBTLO17_Razvr\232\350anje WDM [Compatibility Mode]) 1 Valovno razvrščanje Multipleksiranje WDM Mobitel d.d., izobraževanje 1. 10. 2010, predavanje 17 Prof. dr. Jožko Budin Vsebina 2 1. Valovno (barvno) razvrščanje: 2-WDM, CWDM, DWDM, UDWDM (po gostoti optičnih

Prikaži več

Halogenske žarnice (Seminarska) Predmet: Inštalacije HALOGENSKA ŽARNICA

Halogenske žarnice (Seminarska) Predmet: Inštalacije HALOGENSKA ŽARNICA Halogenske žarnice (Seminarska) Predmet: Inštalacije HALOGENSKA ŽARNICA Je žarnica z nitko iz volframa, okoli katere je atmosfera - prostor, ki vsebuje poleg argona in kriptona doloceno razmerje halogena

Prikaži več

Osnove matematicne analize 2018/19

Osnove matematicne analize  2018/19 Osnove matematične analize 2018/19 Neža Mramor Kosta Fakulteta za računalništvo in informatiko Univerza v Ljubljani Funkcija je predpis, ki vsakemu elementu x iz definicijskega območja D f R priredi natanko

Prikaži več

SOLARNI SISTEMI ZA OGREVANJE IN PRIPRAVO TOPLE VODE PRI NEH IN PH Pri nizkoenergijskih hišah (NEH) in pasivnih hišah (PH) so sistemi za ogrevanje in p

SOLARNI SISTEMI ZA OGREVANJE IN PRIPRAVO TOPLE VODE PRI NEH IN PH Pri nizkoenergijskih hišah (NEH) in pasivnih hišah (PH) so sistemi za ogrevanje in p SOLARNI SISTEMI ZA OGREVANJE IN PRIPRAVO TOPLE VODE PRI NEH IN PH Pri nizkoenergijskih hišah (NEH) in pasivnih hišah (PH) so sistemi za ogrevanje in pripravo tople sanitarne vode (PTV) nadgrajeni s solarnimi

Prikaži več

Microsoft PowerPoint - 05_Spec_pozarni_nacrt_fotovoltaika

Microsoft PowerPoint - 05_Spec_pozarni_nacrt_fotovoltaika POŽARNI NAČRT ZA STAVBE S SONČNO ELEKTRARNO Aleksander ŠPEC Uprava RS za zaščito in reševanje evanje aleksander.spec@urszr.si PRAVILNIK O SPREMEMBAH IN DOPOLNITVAH PRAVILNIKA O POŽARNEM REDU (Uradni list

Prikaži več

Microsoft PowerPoint - Prevod SIOEN prezentacije

Microsoft PowerPoint - Prevod SIOEN prezentacije ZAŠČITA NA PODLAGI INOVACIJ Kratek pregled fasadnih oblog iz tekstilnih materialov Obrazložitev razlike med fasadnimi materiali in različnimi fasadnimi sistemi: Razlikujemo med sistemi oblog in prezračevanimi

Prikaži več

Diapozitiv 1

Diapozitiv 1 Vhodno izhodne naprave Laboratorijska vaja 4 - AV 4 Linije LTSpice, simulacija elektronskih vezij VIN - LV 1 Rozman,Škraba, FRI LTSpice LTSpice: http://www.linear.com/designtools/software/ https://www.analog.com/en/design-center/design-tools-andcalculators/ltspice-simulator.html

Prikaži več

FOTOVOLTAIKA

FOTOVOLTAIKA PRIMERJALNA ANALIZA TEHNOLOGIJ KONČNO POROČILO 1 Vsebina 1. Uvod... 3 1.1. Prva leta fotovoltaike v Italiji, Evropi in svetu... 4 1.1.1. Italija... 4 1.1.2. Svet... 8 1.1.3. Evropa... 10 2 1. Uvod Fotovoltaična

Prikaži več

VAJE

VAJE UČNI LIST Geometrijska telesa Opomba: pri nalogah, kjer računaš maso jeklenih teles, upoštevaj gostoto jekla 7,86 g / cm ; gostote morebitnih ostalih materialov pa so navedene pri samih nalogah! Fe 1)

Prikaži več

Microsoft Word - CNC obdelava kazalo vsebine.doc

Microsoft Word - CNC obdelava kazalo vsebine.doc ŠOLSKI CENTER NOVO MESTO VIŠJA STROKOVNA ŠOLA STROJNIŠTVO DIPLOMSKA NALOGA Novo mesto, april 2008 Ime in priimek študenta ŠOLSKI CENTER NOVO MESTO VIŠJA STROKOVNA ŠOLA STROJNIŠTVO DIPLOMSKA NALOGA Novo

Prikaži več

Microsoft Word - 2. Merski sistemi-b.doc

Microsoft Word - 2. Merski sistemi-b.doc 2.3 Etaloni Definicija enote je največkrat šele natančno formulirana naloga, kako enoto realizirati. Primarni etaloni Naprava, s katero realiziramo osnovno ali izpeljano enoto je primarni etalon. Ima največjo

Prikaži več

Microsoft Word - Astronomija-Projekt19fin

Microsoft Word - Astronomija-Projekt19fin Univerza v Ljubljani Fakulteta za matematiko in fiziko Jure Hribar, Rok Capuder Radialna odvisnost površinske svetlosti za eliptične galaksije Projektna naloga pri predmetu astronomija Ljubljana, april

Prikaži več

Vrste

Vrste Matematika 1 17. - 24. november 2009 Funkcija, ki ni algebraična, se imenuje transcendentna funkcija. Podrobneje si bomo ogledali naslednje transcendentne funkcije: eksponentno, logaritemsko, kotne, ciklometrične,

Prikaži več

2

2 Drsni ležaj Strojni elementi 1 Predloga za vaje Pripravila: doc. dr. Domen Šruga as. dr. Ivan Okorn Ljubljana, 2016 STROJNI ELEMENTI.1. 1 Kazalo 1. Definicija naloge... 3 1.1 Eksperimentalni del vaje...

Prikaži več

LABORATORIJSKE VAJE IZ FIZIKE

LABORATORIJSKE VAJE IZ FIZIKE UVOD LABORATORIJSKE VAJE IZ FIZIKE V tem šolskem letu ste se odločili za fiziko kot izbirni predmet. Laboratorijske vaje boste opravljali med poukom od začetka oktobra do konca aprila. Zunanji kandidati

Prikaži več

RAČUNALNIŠKA ORODJA V MATEMATIKI

RAČUNALNIŠKA ORODJA V MATEMATIKI DEFINICIJA V PARAVOKOTNEM TRIKOTNIKU DEFINICIJA NA ENOTSKI KROŢNICI GRAFI IN LASTNOSTI SINUSA IN KOSINUSA POMEMBNEJŠE FORMULE Oznake: sinus kota x označujemo z oznako sin x, kosinus kota x označujemo z

Prikaži več

10. Meritev šumnega števila ojačevalnika Vsako radijsko zvezo načrtujemo za zahtevano razmerje signal/šum. Šum ima vsaj dva izvora: naravni šum T A, k

10. Meritev šumnega števila ojačevalnika Vsako radijsko zvezo načrtujemo za zahtevano razmerje signal/šum. Šum ima vsaj dva izvora: naravni šum T A, k 10. Meritev šumnega števila ojačevalnika Vsako radijsko zvezo načrtujemo za zahtevano razmerje signal/šum. Šum ima vsaj dva izvora: naravni šum T A, ki ga sprejme antena in dodatni šum T S radijskega sprejemnika.

Prikaži več

M-Tel

M-Tel Poročilo o meritvah / Test report Št. / No. 16-159-M-Tel Datum / Date 16.03.2016 Zadeva / Subject Pooblastilo / Authorization Meritve visokofrekvenčnih elektromagnetnih sevanj (EMS) Ministrstvo za okolje

Prikaži več

PowerPointova predstavitev

PowerPointova predstavitev Obravnava kotov za učence s posebnimi potrebami Reading of angles for pupils with special needs Petra Premrl OŠ Danila Lokarja Ajdovščina OSNOVNA ŠOLA ENAKOVREDNI IZOBRAZBENI STANDARD NIŽJI IZOBRAZBENI

Prikaži več

Univerza v Ljubljani

Univerza v Ljubljani Univerza v Ljubljani Fakulteta za elektrotehniko Jernej Plankar IR vmesnik za prenos zvoka Seminarska naloga pri predmetu Elektronska vezja V Ljubljani, avgust 2011 Jernej Plankar IR prenos zvoka 2 1 UVOD

Prikaži več

Toplotne črpalke

Toplotne črpalke SOLARNI SISTEMI ZA OGREVANJE IN PRIPRAVO TOPLE VODE V NEH IN PH Pri nizkoenergijskih hišah (NEH) in pasivnih hišah (PH) so sistemi za ogrevanje in pripravo tople sanitarne vode (PTV) nadgrajeni s solarnimi

Prikaži več

Microsoft Word - ELEKTROTEHNIKA2_ junij 2013_pola1 in 2

Microsoft Word - ELEKTROTEHNIKA2_ junij 2013_pola1 in 2 Šifra kandidata: Srednja elektro šola in tehniška gimnazija ELEKTROTEHNIKA PISNA IZPITNA POLA 1 12. junij 2013 Čas pisanja 40 minut Dovoljeno dodatno gradivo in pripomočki: Kandidat prinese nalivno pero

Prikaži več

INO WinterAktion Flyer EXCLUSIV SI-1 bc.cdr

INO WinterAktion Flyer EXCLUSIV SI-1 bc.cdr EXCLUSIV VHODNA VRATA PROGRAM 2019 / 2020 Vhodna vrata iz aluminija z obojestransko prekrivnim polnilom in faktorjem toplotne izolativnosti 2 W/m K. Ustvarjena z občutkom za varnost, estetiko in ugodje.

Prikaži več

(Microsoft PowerPoint - MBTLO4_Slabljenje opti\350nega vlakna [Compatibility Mode])

(Microsoft PowerPoint - MBTLO4_Slabljenje opti\350nega vlakna [Compatibility Mode]) Slabljenje v vlaknu Slabljenje (db/km) Prvo okno (O) 1980 Drugo okno (S) Tretje okno (L) Mobitel d.d., izobraževanje 2. 4. 2010, predavanje 4 1990 Vlakno danes Min 0,16 db/km Prof.dr.Jožko Budin Valovna

Prikaži več

FIZIKA IN ARHITEKTURA SKOZI NAŠA UŠESA

FIZIKA IN ARHITEKTURA SKOZI NAŠA UŠESA FIZIKA IN ARHITEKTURA SKOZI NAŠA UŠESA SE SPOMNITE SREDNJEŠOLSKE FIZIKE IN BIOLOGIJE? Saša Galonja univ. dipl. inž. arh. ZAPS marec, april 2012 Vsebina Kaj je zvok? Kako slišimo? Arhitekturna akustika

Prikaži več

Optimizacija z roji delcev - Seminarska naloga pri predmetu Izbrana poglavja iz optimizacije

Optimizacija z roji delcev - Seminarska naloga pri predmetu Izbrana poglavja iz optimizacije Univerza v Ljubljani Fakulteta za matematiko in fiziko Seminarska naloga pri predmetu Izbrana poglavja iz optimizacije 2. junij 2011 Koncept PSO Motivacija: vedenje organizmov v naravi Ideja: koordinirano

Prikaži več

Matematika II (UN) 1. kolokvij (13. april 2012) RE ITVE Naloga 1 (25 to k) Dana je linearna preslikava s predpisom τ( x) = A x A 1 x, kjer je A

Matematika II (UN) 1. kolokvij (13. april 2012) RE ITVE Naloga 1 (25 to k) Dana je linearna preslikava s predpisom τ( x) = A x A 1 x, kjer je A Matematika II (UN) 1 kolokvij (13 april 01) RE ITVE Naloga 1 (5 to k) Dana je linearna preslikava s predpisom τ( x) = A x A 1 x, kjer je 0 1 1 A = 1, 1 A 1 pa je inverzna matrika matrike A a) Poi² ite

Prikaži več

INDUSTRIJA 4.0: PRILOŽNOSTI DIGITALNE PREOBRAZBE PROCESA RAZVOJA BARV IN PREMAZOV TOMAŽ KERN, BENJAMIN URH, MARJAN SENEGAČNIK, EVA KRHAČ

INDUSTRIJA 4.0:  PRILOŽNOSTI DIGITALNE PREOBRAZBE PROCESA RAZVOJA BARV IN PREMAZOV TOMAŽ KERN, BENJAMIN URH, MARJAN SENEGAČNIK, EVA KRHAČ INDUSTRIJA 4.0: PRILOŽNOSTI DIGITALNE PREOBRAZBE PROCESA RAZVOJA BARV IN PREMAZOV TOMAŽ KERN, BENJAMIN URH, MARJAN SENEGAČNIK, EVA KRHAČ AGENDA IZZIV OZADJE RAZISKAVE POSNETEK STANJA ANALIZA STANJA in

Prikaži več

Matematika Diferencialne enačbe prvega reda (1) Reši diferencialne enačbe z ločljivimi spremenljivkami: (a) y = 2xy, (b) y tg x = y, (c) y = 2x(1 + y

Matematika Diferencialne enačbe prvega reda (1) Reši diferencialne enačbe z ločljivimi spremenljivkami: (a) y = 2xy, (b) y tg x = y, (c) y = 2x(1 + y Matematika Diferencialne enačbe prvega reda (1) Reši diferencialne enačbe z ločljivimi spremenljivkami: (a) y = 2xy, (b) y tg x = y, (c) y = 2x(1 + y 2 ). Rešitev: Diferencialna enačba ima ločljive spremenljivke,

Prikaži več

Poročilo projekta : Učinkovita raba energije Primerjava klasične sončne elektrarne z sončno elektrarno ki sledi soncu. Cilj projekta: Cilj našega proj

Poročilo projekta : Učinkovita raba energije Primerjava klasične sončne elektrarne z sončno elektrarno ki sledi soncu. Cilj projekta: Cilj našega proj Poročilo projekta : Učinkovita raba energije Primerjava klasične sončne elektrarne z sončno elektrarno ki sledi soncu. Cilj projekta: Cilj našega projekta je bil izdelati učilo napravo za prikaz delovanja

Prikaži več

Microsoft Word - rogelj-rosus06_4.doc

Microsoft Word - rogelj-rosus06_4.doc Zbornik prispevkov strokovne konference ROSUS 2006 Računalniška obdelava slik in njena uporaba v Sloveniji 2006, Maribor, 23. marec 2006. PORAVNAVA MEDICINSKIH SLIK Peter Rogelj, Stanislav Kovačič Univerza

Prikaži več

MERJENJE GORIŠČNE RAZDALJE LEČE

MERJENJE GORIŠČNE RAZDALJE LEČE MERJENJE GORIŠČNE RAZDALJE LEČE 1. UVOD: V tej vaji je bilo potrebno narediti pet nalog, povezanih z lečami. 2. NALOGA: -Na priloženih listih POTREBŠČINE: -Na priloženih listih A. Enačba zbiralne leče

Prikaži več

DN5(Kor).dvi

DN5(Kor).dvi Koreni Število x, ki reši enačbo x n = a, imenujemo n-ti koren števila a in to označimo z n a. Pri tem je n naravno število, a pa poljubno realno število. x = n a x n = a. ( n a ) n = a. ( n a ) m = n

Prikaži več

Poskusi s kondenzatorji

Poskusi s kondenzatorji Poskusi s kondenzatorji Samo Lasič, Fakulteta za Matematiko in Fiziko, Oddelek za fiziko, Ljubljana Povzetek Opisani so nekateri poskusi s kondenzatorji, ki smo jih izvedli z merilnim vmesnikom LabPro.

Prikaži več

VIN Lab 1

VIN Lab 1 Vhodno izhodne naprave Laboratorijska vaja 1 - AV 1 Signali, OE, Linije VIN - LV 1 Rozman,Škraba, FRI Laboratorijske vaje VIN Ocena iz vaj je sestavljena iz ocene dveh kolokvijev (50% ocene) in iz poročil

Prikaži več

Ime in priimek: Vpisna št: FAKULTETA ZA MATEMATIKO IN FIZIKO Oddelek za matematiko Statistika Pisni izpit 6. julij 2018 Navodila Pazljivo preberite be

Ime in priimek: Vpisna št: FAKULTETA ZA MATEMATIKO IN FIZIKO Oddelek za matematiko Statistika Pisni izpit 6. julij 2018 Navodila Pazljivo preberite be Ime in priimek: Vpisna št: FAKULEA ZA MAEMAIKO IN FIZIKO Oddelek za matematiko Statistika Pisni izpit 6 julij 2018 Navodila Pazljivo preberite besedilo naloge, preden se lotite reševanja Za pozitiven rezultat

Prikaži več

FIZIKALNA STANJA IN UREJENOST POLIMERNIH VERIG Polimeri se od nizkomolekularnih spojin razlikujejo po naravi fizikalnega stanja in po morfologiji. Gle

FIZIKALNA STANJA IN UREJENOST POLIMERNIH VERIG Polimeri se od nizkomolekularnih spojin razlikujejo po naravi fizikalnega stanja in po morfologiji. Gle FIZIKALNA STANJA IN UREJENOST POLIMERNIH VERIG Polimeri se od nizkomolekularnih spojin razlikujejo po naravi fizikalnega stanja in po morfologiji. Glede na obliko in način urejanja polimernih verig v trdnem

Prikaži več

PowerPointova predstavitev

PowerPointova predstavitev Slovenija znižuje CO 2 : dobre prakse INTEGRACIJA SPREJEMNIKOV SONČNE ENERGIJE V SISTEM DOLB VRANSKO Marko Krajnc Energetika Vransko d.o.o. Vransko, 12.4.2012 Projekt»Slovenija znižuje CO 2 : dobre prakse«izvaja

Prikaži več

C(2015)383/F1 - SL

C(2015)383/F1 - SL EVROPSKA KOMISIJA Bruselj, 30.1.2015 C(2015) 383 final DELEGIRANA DIREKTIVA KOMISIJE.../ /EU z dne 30.1.2015 o spremembi Priloge III k Direktivi 2011/65/EU Evropskega parlamenta in Sveta glede izjem pri

Prikaži več

Dinamika požara v prostoru 21. predavanje Vsebina gorenje v prostoru in na prostem dinamika gorenja v prostoru faze, splošno kvantitativno T

Dinamika požara v prostoru 21. predavanje Vsebina gorenje v prostoru in na prostem dinamika gorenja v prostoru faze, splošno kvantitativno T Dinamika požara v prostoru 21. predavanje Vsebina gorenje v prostoru in na prostem dinamika gorenja v prostoru faze, splošno kvantitativno T pred požarnim preskokom Q FO za požarni preskok polnorazviti

Prikaži več

Schöck Isokorb tip W Schöck Isokorb tip W W Schöck Isokorb tip W Primeren je za konzolne stenske plošče. Prenaša negativne momente in pozitivne prečne

Schöck Isokorb tip W Schöck Isokorb tip W W Schöck Isokorb tip W Primeren je za konzolne stenske plošče. Prenaša negativne momente in pozitivne prečne Primeren je za konzolne stenske plošče. Prenaša negativne momente in pozitivne prečne sile. Poleg tega prenaša tudi izmenične vodoravne sile. 111 Razvrstitev elementov Prerez pri vgrajevanju zunaj znotraj

Prikaži več

Microsoft PowerPoint - MK 3 tehnicni sistemi.ppt

Microsoft PowerPoint - MK 3 tehnicni sistemi.ppt Opredelitev tehničnega sistema Proces prenosa naravnih sistemov v tehnični sisteme, kot posledica človekovega ustvarjanja 1 Uvod - kaj predstavlja tehnični sistem, splošni primeri Predstavitev primera

Prikaži več

Svet Evropske unije Bruselj, 11. avgust 2017 (OR. en) Medinstitucionalna zadeva: 2017/0188 (NLE) 11653/17 FISC 173 PREDLOG Pošiljatelj: Datum prejema:

Svet Evropske unije Bruselj, 11. avgust 2017 (OR. en) Medinstitucionalna zadeva: 2017/0188 (NLE) 11653/17 FISC 173 PREDLOG Pošiljatelj: Datum prejema: Svet Evropske unije Bruselj, 11. avgust 2017 (OR. en) Medinstitucionalna zadeva: 2017/0188 (NLE) 11653/17 FISC 173 PREDLOG Pošiljatelj: Datum prejema: 9. avgust 2017 Prejemnik: Št. dok. Kom.: Zadeva: za

Prikaži več

IR termometer testo 830 testo 830 hiter, za brezkontaktno merjenje površinske temperature Merjenje z laserskim pointerjem za natančno merjenje tudi na

IR termometer testo 830 testo 830 hiter, za brezkontaktno merjenje površinske temperature Merjenje z laserskim pointerjem za natančno merjenje tudi na IR termometer testo 830 testo 830 hiter, za brezkontaktno merjenje površinske temperature Merjenje z laserskim pointerjem za natančno merjenje tudi na večjih razdaljah Hitro shranjevanje odčitkov (2 odčitka

Prikaži več

Uvodno predavanje

Uvodno predavanje RAČUNALNIŠKA ORODJA Simulacije elektronskih vezij M. Jankovec 2.TRAN analiza (Analiza v časovnem prostoru) Iskanje odziva nelinearnega dinamičnega vezja v časovnem prostoru Prehodni pojavi Stacionarno

Prikaži več

(Microsoft PowerPoint - vorsic ET 9.2 OES matri\350ne metode 2011.ppt [Compatibility Mode])

(Microsoft PowerPoint - vorsic ET 9.2 OES matri\350ne metode 2011.ppt [Compatibility Mode]) 8.2 OBRATOVANJE ELEKTROENERGETSKEGA SISTEMA o Matrične metode v razreševanju el. omrežij Matrične enačbe električnih vezij Numerične metode za reševanje linearnih in nelinearnih enačb Sistem algebraičnih

Prikaži več

Slide 1

Slide 1 Vsak vektor na premici skozi izhodišče lahko zapišemo kot kjer je v smerni vektor premice in a poljubno število. r a v Vsak vektor na ravnini skozi izhodišče lahko zapišemo kot kjer sta v, v vektorja na

Prikaži več

Predtest iz za 1. kontrolno nalogo- 2K Teme za kontrolno nalogo: Podobni trikotniki. Izreki v pravokotnem trikotniku. Kotne funkcije poljubnega kota.

Predtest iz za 1. kontrolno nalogo- 2K Teme za kontrolno nalogo: Podobni trikotniki. Izreki v pravokotnem trikotniku. Kotne funkcije poljubnega kota. Predtest iz za 1. kontrolno nalogo- K Teme za kontrolno nalogo: Podobni trikotniki. Izreki v pravokotnem trikotniku. Kotne funkcije poljubnega kota. Osnovne zveze med funkcijamo istega kota. Uporaba kotnih

Prikaži več

Microsoft Word - Pravila - AJKTM 2016.docx

Microsoft Word - Pravila - AJKTM 2016.docx PRAVILA ALI JE KAJ TRDEN MOST 2016 3. maj 5. maj 2016 10. 4. 2016 Maribor, Slovenija 1 Osnove o tekmovanju 1.1 Ekipa Ekipa sestoji iz treh članov, ki so se po predhodnem postopku prijavili na tekmovanje

Prikaži več

2. izbirni test za MMO 2017 Ljubljana, 17. februar Naj bosta k 1 in k 2 dve krožnici s središčema O 1 in O 2, ki se sekata v dveh točkah, ter

2. izbirni test za MMO 2017 Ljubljana, 17. februar Naj bosta k 1 in k 2 dve krožnici s središčema O 1 in O 2, ki se sekata v dveh točkah, ter 2. izbirni test za MMO 2017 Ljubljana, 17. februar 2017 1. Naj bosta k 1 in k 2 dve krožnici s središčema O 1 in O 2, ki se sekata v dveh točkah, ter naj bo A eno od njunih presečišč. Ena od njunih skupnih

Prikaži več

Strokovni izobraževalni center Ljubljana, Srednja poklicna in strokovna šola Bežigrad PRIPRAVE NA PISNI DEL IZPITA IZ MATEMATIKE 2. letnik nižjega pok

Strokovni izobraževalni center Ljubljana, Srednja poklicna in strokovna šola Bežigrad PRIPRAVE NA PISNI DEL IZPITA IZ MATEMATIKE 2. letnik nižjega pok Strokovni izobraževalni center Ljubljana, Srednja poklicna in strokovna šola Bežigrad PRIPRAVE NA PISNI DEL IZPITA IZ MATEMATIKE 2. letnik nižjega poklicnega izobraževanja NAVODILA: Izpit iz matematike

Prikaži več

Delavnica Načrtovanje digitalnih vezij

Delavnica Načrtovanje digitalnih vezij Laboratorij za načrtovanje integriranih vezij Univerza v Ljubljani Fakulteta za elektrotehniko Digitalni Elektronski Sistemi Osnove jezika VHDL Strukturno načrtovanje in testiranje Struktura vezja s komponentami

Prikaži več

6.1 Uvod 6 Igra Chomp Marko Repše, Chomp je nepristranska igra dveh igralcev s popolno informacijo na dvo (ali vec) dimenzionalnem prostoru

6.1 Uvod 6 Igra Chomp Marko Repše, Chomp je nepristranska igra dveh igralcev s popolno informacijo na dvo (ali vec) dimenzionalnem prostoru 6.1 Uvod 6 Igra Chomp Marko Repše, 30.03.2009 Chomp je nepristranska igra dveh igralcev s popolno informacijo na dvo (ali vec) dimenzionalnem prostoru in na končni ali neskončni čokoladi. Igralca si izmenjujeta

Prikaži več

Ime in priimek: Vpisna št: FAKULTETA ZA MATEMATIKO IN FIZIKO Oddelek za matematiko Verjetnost Pisni izpit 5. februar 2018 Navodila Pazljivo preberite

Ime in priimek: Vpisna št: FAKULTETA ZA MATEMATIKO IN FIZIKO Oddelek za matematiko Verjetnost Pisni izpit 5. februar 2018 Navodila Pazljivo preberite Ime in priimek: Vpisna št: FAKULTETA ZA MATEMATIKO IN FIZIKO Oddelek za matematiko Verjetnost Pisni izpit 5 februar 018 Navodila Pazljivo preberite besedilo naloge, preden se lotite reševanja Nalog je

Prikaži več

IZVEDBENA UREDBA KOMISIJE (EU) 2018/ z dne 16. julija o spremembi Izvedbene uredbe (EU) 2017/ za razjasnitev in

IZVEDBENA  UREDBA  KOMISIJE  (EU)  2018/ z dne  16. julija o spremembi  Izvedbene  uredbe  (EU)  2017/ za  razjasnitev  in L 180/10 17.7.2018 IZVEDBENA UREDBA KOMISIJE (EU) 2018/1002 z dne 16. julija 2018 o spremembi Izvedbene uredbe (EU) 2017/1153 za razjasnitev in poenostavitev postopka korelacije ter njegovo prilagoditev

Prikaži več

Univerza v Mariboru Fakulteta za naravoslovje in matematiko Oddelek za matematiko in računalništvo Enopredmetna matematika IZPIT IZ VERJETNOSTI IN STA

Univerza v Mariboru Fakulteta za naravoslovje in matematiko Oddelek za matematiko in računalništvo Enopredmetna matematika IZPIT IZ VERJETNOSTI IN STA Enopredmetna matematika IN STATISTIKE Maribor, 31. 01. 2012 1. Na voljo imamo kovanca tipa K 1 in K 2, katerih verjetnost, da pade grb, je p 1 in p 2. (a) Istočasno vržemo oba kovanca. Verjetnost, da je

Prikaži več

Microsoft PowerPoint - MK 3 tehnicni sistemi.ppt

Microsoft PowerPoint - MK 3 tehnicni sistemi.ppt Opredelitev tehničnega sistema Proces prenosa naravnih sistemov v tehnični sisteme, kot posledica človekovega ustvarjanja 1 Uvod - kaj predstavlja tehnični sistem, splošni primeri Predstavitev primera

Prikaži več

Slovenska predloga za KE

Slovenska predloga za KE 23. posvetovanje "KOMUNALNA ENERGETIKA / POWER ENGINEERING", Maribor, 2014 1 ANALIZA VPLIVA PRETOKA ENERGIJE PREKO RAZLIČNIH NIZKONAPETOSTNIH VODOV NA NAPETOSTNI PROFIL OMREŽJA Ernest BELIČ, Klemen DEŽELAK,

Prikaži več

Mrežni modeli polimernih verig Boštjan Jenčič 22. maj 2013 Eden preprostejših opisov polimerne verige je mrežni model, kjer lahko posamezni segmenti p

Mrežni modeli polimernih verig Boštjan Jenčič 22. maj 2013 Eden preprostejših opisov polimerne verige je mrežni model, kjer lahko posamezni segmenti p Mrežni modeli polimernih verig Boštjan Jenčič. maj 013 Eden preprostejših opisov polimerne verige je mrežni model, kjer lahko posameni segmenti polimera asedejo golj ogljišča v kvadratni (ali kubični v

Prikaži več

DN080038_plonk plus fizika SS.indd

DN080038_plonk plus fizika SS.indd razlage I formule I rešeni primeri I namigi I opozorila I tabele Srednješolski Plonk+ Fizika razlage formule rešeni primeri namigi opozorila tabele Avtor: Vasja Kožuh Strokovni pregled: dr. Gorazd Planinšič

Prikaži več

ANALITIČNA GEOMETRIJA V RAVNINI

ANALITIČNA GEOMETRIJA V RAVNINI 3. Analitična geometrija v ravnini Osnovna ideja analitične geometrije je v tem, da vaskemu geometrijskemu objektu (točki, premici,...) pridružimo števila oz koordinate, ki ta objekt popolnoma popisujejo.

Prikaži več

Podatkovni model ER

Podatkovni model ER Podatkovni model Entiteta- Razmerje Iztok Savnik, FAMNIT 2018/19 Pregled: Načrtovanje podatkovnih baz Konceptualno načtrovanje: (ER Model) Kaj so entite in razmerja v aplikacijskem okolju? Katere podatke

Prikaži več

PRILOGA 2 Minimalni standardi kakovosti oskrbe za izbrane dimenzije kakovosti oskrbe in raven opazovanja posameznih parametrov kakovosti oskrbe 1. NEP

PRILOGA 2 Minimalni standardi kakovosti oskrbe za izbrane dimenzije kakovosti oskrbe in raven opazovanja posameznih parametrov kakovosti oskrbe 1. NEP PRILOGA 2 Minimalni standardi kakovosti oskrbe za izbrane dimenzije kakovosti oskrbe in raven opazovanja posameznih parametrov kakovosti oskrbe 1. NEPREKINJENOST NAPAJANJA 1.1. Ciljna raven neprekinjenosti

Prikaži več

Upori

Upori Linearni upor Upor raznovrstnih tehnoloških izvedb sodi med najpogostejše elemente v elektronskih napravah. Kadar se njegova nazivna upornost R N ne spreminja v odvisnosti od pritisnjene napetosti ali

Prikaži več

Ime in priimek

Ime in priimek Polje v osi tokovne zanke Seminar pri predmetu Osnove Elektrotehnike II, VSŠ (Uporaba programskih orodij v elektrotehniki) Ime Priimek, vpisna številka, skupina Ljubljana,.. Kratka navodila: Seminar mora

Prikaži več

Avtomatizirano modeliranje pri celostnem upravljanju z vodnimi viri

Avtomatizirano modeliranje pri celostnem upravljanju z vodnimi viri Univerza v Ljubljani Fakulteta za gradbeništvo in geodezijo 36. Goljevščkov spominski dan Modeliranje kroženja vode in spiranja hranil v porečju reke Pesnice Mateja Škerjanec 1 Tjaša Kanduč 2 David Kocman

Prikaži več

VPRAŠANJA ZA USTNI IZPIT PRI PREDMETU OSNOVE ELEKTROTEHNIKE II PREDAVATELJ PROF. DR. DEJAN KRIŽAJ Vprašanja so v osnovi sestavljena iz naslovov poglav

VPRAŠANJA ZA USTNI IZPIT PRI PREDMETU OSNOVE ELEKTROTEHNIKE II PREDAVATELJ PROF. DR. DEJAN KRIŽAJ Vprašanja so v osnovi sestavljena iz naslovov poglav VPRAŠANJA ZA USTNI IZPIT PRI PREDMETU OSNOVE ELEKTROTEHNIKE II PREDAVATELJ PROF. DR. DEJAN KRIŽAJ Vprašanja so v osnovi sestavljena iz naslovov poglavij v učbeniku Magnetika in skripti Izmenični signali.

Prikaži več

FAKULTETA ZA STROJNIŠTVO Matematika 2 Pisni izpit 9. junij 2005 Ime in priimek: Vpisna št: Zaporedna številka izpita: Navodila Pazljivo preberite bese

FAKULTETA ZA STROJNIŠTVO Matematika 2 Pisni izpit 9. junij 2005 Ime in priimek: Vpisna št: Zaporedna številka izpita: Navodila Pazljivo preberite bese FAKULTETA ZA STROJNIŠTVO Matematika Pisni izpit 9. junij 005 Ime in priimek: Vpisna št: Zaporedna številka izpita: Navodila Pazljivo preberite besedilo naloge, preden se lotite reševanja. Veljale bodo

Prikaži več

DOMACA NALOGA - LABORATORIJSKE VAJE NALOGA 1 Dani sta kompleksni stevili z in z Kompleksno stevilo je definirano kot : z = a + b, a p

DOMACA NALOGA - LABORATORIJSKE VAJE NALOGA 1 Dani sta kompleksni stevili z in z Kompleksno stevilo je definirano kot : z = a + b, a p DOMACA NALOGA - LABORATORIJSKE VAJE NALOGA 1 Dani sta kompleksni stevili z 1 5 2 3 in z 2 3 8 5. Kompleksno stevilo je definirano kot : z = a + b, a predstavlja realno, b pa imaginarno komponento. z 1

Prikaži več

(Microsoft Word - 3. Pogre\232ki in negotovost-c.doc)

(Microsoft Word - 3. Pogre\232ki in negotovost-c.doc) 3.4 Merilna negotovost Merilna negotovost je parameter, ki pripada merilnem rezltat. Označje razpršenost vrednosti, ki jih je mogoče z določeno verjetnostjo pripisati merjeni veličini. Navaja kakovost

Prikaži več

Besedilo naloge:

Besedilo naloge: naliza elektronskih komponent 4. Vaja: Preverjanje delovanja polprevodniških komponent Polprevodniške komponente v močnostnih stopnjah so pogosto vzrok odpovedi, zato je poznavanje metod hitrega preverjanja

Prikaži več

Matematika 2

Matematika 2 Matematika 2 Gregor Dolinar Fakulteta za elektrotehniko Univerza v Ljubljani 23. april 2014 Soda in liha Fourierjeva vrsta Opomba Pri razvoju sode periodične funkcije f v Fourierjevo vrsto v razvoju nastopajo

Prikaži več

resitve.dvi

resitve.dvi FAKULTETA ZA STROJNISTVO Matematika Pisni izpit. junij 22 Ime in priimek Vpisna st Navodila Pazljivo preberite besedilo naloge, preden se lotite resevanja. Veljale bodo samo resitve na papirju, kjer so

Prikaži več

DVD

DVD DVD DVD - uvod Kratica je v začetku pomenila Digital Video Disc, kasneje pa se je njen pomen spremenil in nastal je Digital Versatille Disc Sprememb praktično ni bilo, saj je plošček ostal isti, do zamenjave

Prikaži več